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三箱式冷热 冲击箱技术 方案 1.1 冷热冲击试验箱 HL T-THS-50P （产品以实物为准）

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三箱式冷热冲击箱技术方案
1.1 冷热冲击试验箱 HLT-THS-50P
（产品以实物为准）
三箱式冷热冲击试验箱技术参数
1、型号用途
1.1 品名型号
三箱式冷热冲击试验箱 HLT-THS-50P
1.2 型号说明
THS 50 P
1.3 用途
三箱式冷热冲击试验箱系统结构分为高温槽（预热区），低温槽（预冷区），试
验箱（测试区）三部分，样品置于测试区内，冲击时高温区或低温区的温度通过
高压气缸驱动进入测试区内进行温度冲击，从而达到温度剧烈变化的目的，测试
产品为静态式。本试验箱适用于考核整机产品，元器件，零部件，材料等经受温
度急剧变化的能力，该温度冲击试验藉以在最短时间内评估试验样品因热胀冷缩
引起的化学变化或物理伤害，能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带
来的影响。影响温度变化试验的主要参数为温度变化范围的高温和低温温度值，
试验样品在高温和低温下的保持时间，以及试验的循环次数等因素。冷热冲击箱
是电子，LED，金属，塑料，橡胶，电子等材料行业必备的测试设备。
2、容积和尺寸
2.1 有效容积
50L
2.2 内箱尺寸(mm)
400×350×350mm(宽*高*深)
2.3 外形尺寸(mm)约
约 1350×1850×1700mm(宽*高*深) 以实际尺寸为准
3、性能 （空载条件下测得性能）
3.1 冲击温度
-60℃～+155℃
3.2 高温冲击温度范围
+60℃～+155℃
3.3 低温冲击温度范围
-10℃～-60℃
表示温度范围最低温-60℃
工作室容积（单位：L）
3.4 温度冲击方式
可设定二区或三区冲击,冷冲或热冲启始.
高温～低温，暴露时间 30min
低温～高温，暴露时间 30min
高温～常温～低温，暴露时间 30min
低温～常温～高温，暴露时间 30min
3.5 解析精度
0.1℃
3.6 温度波动度
±0.5℃
3.7 温度偏差
±2.0℃（空载）
3.8 温度均匀度
2.0℃（空载）
3.9 升降温速率
预热：RT<-----> +180℃ 约 40 分钟（非线性空载，约 3.5℃/分钟）
预冷：RT<-----> -75℃ 约 85 分钟（非线性空载，约 1.2℃/分钟）
3.10 温度转换时间
≤10 秒内
3.11 温度冲击恢复时间
≤5 分钟
3.12 电源
AC3￠4W 380V 50Hz(R、STN 相加接地线)（电压波动≤±10%）
3.13 功率
最大有效功率 24.0KW
3.14 满足试验标准
GJB 150.3-1986 军用设备环境试验方法 高温试验
GJB 150.4-1986 军用设备环境试验方法 低温试验
GJB 150.5-1986 军用设备环境试验方法 温度冲击试验
GJB360.7-87 电子及电气元件试验方法温度冲击试验
GB∕T 2423.22-2012 环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 N：温度变化
IEC60068 -2-14:2023 环境测试-第 2 -14 部分：测试-测试 N:温度变化
GB/T 5729-2003 4.19《电子设备用固定电阻器第 1 部分：总规范》
3.15 冷却方式
设备采用风冷式。
3.16 节能设计
制冷系统可根据负载大小调节功率，采用 PID+PWM 原理的 VRF 技术（电子膨
胀阀根据热能工况冷媒流量伺服控制），且具有压缩机能量调节技术，能达到极
佳的节能效果。
4、结构材质
备注