YSi_Prog_K - 第142页

2-72 2 3 판 정조건 파라미터를 설정합니다 . 「판정조 건」 탭화 면 을열 어 서 ,다음의파라미 터 를설 정 해주십 시 오 . 판정조건 파라미터 검사스테이터스:극성체크 28286-P9- 00 A~D . 허용 옵 셋량 N~ W(mm )  위 치틀어 짐 의허 용범 위 를설 정 합니 다 . ( 참 고 값 :0.20 0) L . 최 소 면적 (%)  면적규격 의최 소 면…

100%1 / 203
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2
8.8 성 체크
이 검사 스테스는 , IC 부품 등의 극성 마크를 검사할 경에 사용합니다 .
극성마크의 종류에 따라서는 ,「휘도 레「비」검사 스테터스가 적합할 경가 있습니 .
1
스탭을 설정합니다 .
1. 스탭범를작합니 .
형마크에스탭범를적할경우는 ,원의외보다도조금작게작성해주십시 .
2. 사스테「극성체로설정합니다 .
3. 경계을설정합니다 .
참고
스탭 범위의 작성과 경계값의 설정에 관해서는 , 본 장「7.1 스탭 설정의 기순서」를 참조해 주십시오 .
검사 스테이터스
극성 체크
「전극체크」로 설정
28284-P9-00
2
검출조건 파라미터를 설정합니다 .
「검건」탭화을열 ,다음의파라미를설해주십 .
검출조건 파라미터
검사 스테이터스:극성 체크
[기준면적]버튼
28285-P9-00
A. 기준면적 (mm
2
)
[ 준면 ] 버튼을누 ,작성한스탭범위의면이자동으로설 .
C, D. 최소 검출사이즈 (mm)
사대상물의최소사이를설합니 .
소검출의초기으로서 ,X0.06,Y0.06 을입해주십 .
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2
3
정조건 파라미터를 설정합니다 .
「판정조건」탭화을열 ,다음의파라미를설해주십 .
판정조건 파라미터
검사스테이터스:극성체크
28286-P9-00
A~D. 허용 옵셋량 N~W(mm)
치틀어의허용범를설합니 .( :0.200)
L. 면적 (%)
면적규격의최면적을설정합니 .( :70%)
M. (%)
면적규격의최을설합니 .( :130%)
4
스탭 테스트를 실행합니다 .
1. 파라미터의설이완료되 ,[ 스탭 ] 튼을눌러서 ,작성한스의테스트를실해주십 .
2. 출데를확인한후 ,[ ] 튼을누릅 .이때 ,테스트결「NG」라도문 .
3. 스트결「OK로되면[ 결과 ] 을누르고 ,계속해서[ 자동계 ] 을눌러주십시 .
사이즈의XY 의50% 의값이검건파라미터의「C,D최소검사이 XY에각각설
니다 .
5
스탭 범위의 사이즈를 변경니다 .
극성마크주위의영향에의「허용틀어 NG」의과판을피기위 ,스위사이즈를극성
크의1.5~2 로변경합니 .기본파라미「M,N스탭사이 X,Y」를변경해주십 .
6
「허용 옵셋을 변경니다 .
판정조건파라미「A~D.허용옵 N~W(mm)」를전「SKIP」으로설정해주십 .
7
재차 , 스탭 테트를 실행합니다 .
1. [ 스탭 ] 튼을눌러서재차스탭테스트를실해주십 .
2. 출데를확인한후 ,[ ] 튼을누릅 .
검출 데이
ThresholdNo. : 검사한경계값의번 .
dx=,dy= : 스탭범위와검출영역중심의틀어 .
Area= : 출면의기준면에대한% .
3. 스트결에따라 ,「검출조「판정조건」파라미터를재검토해주십 .
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8.9 전극 체크
이 검사 스테스는 , 칩 부품의 전극 거를 판정해서 부품 결품이나 위치 틀어짐을 검사할 경우에 사
니다 .
1
스탭을 설정합니다 .
1. 스탭범를작합니 .
2. 사스테「전극체로설정합니다 .
3. 경계을설정합니다 .
참고
스탭 범위의 작성과 경계값의 설정에 관해서는 , 본 장「7.1 스탭 설정의 기순서」를 참조해 주십시오 .
검사 스테이터스
전극 체크
「전극 체크」로 설정
28287-P9-00
2
검출조건 파라미터를 설정합니다 .
「검건」탭화을열 ,다음의파라미를설해주십 .
검출조건 파라미터
검사 스테이터스:전극 체크
[기준면적]버튼
28288-P9-00
A. 기준면적 (mm
2
)
[ 준면 ] 버튼을누 ,작성한스탭범위의면이자동으로설 .