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2-10 2 M. 부 품 결품시 동 일 Ref 검사스킵 「 사 용 」 을선 택 한경 우에는 ,부품체 크및전극 체 크가NG 일때 에 ,동 일부품 의검 사 를스 킵 하 고다 음 부품 의검 사 를실 행 합니 다 . N . 패스모드 기 판검사를실 행 하 지않 고 ,기판을반송합니 다 . O . 검사 중단 NG 수 기 판검사NG 수가여 기…
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기판 파라미터의「사이즈 X, Y」에 기판 사이즈를 입력합니다 .
[ 검사데이터 ]-「기판」화면을열고 ,기판의XY 방향의사이즈를mm 단위로입력합니다 .
기판 파라미터
Step 4
Step 5
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필요에 따라서 그 이외의 파라미터를 설정합니다 .
C. 코멘트
기판에관한메모를해두는란입니다 .공란이어도상관없습니다 .
반각영숫자28 문자이내로입력할수있습니다 .
D. 기판 타입
기판의타입에관한메모를해두는란입니다 .공란이어도상관없습니다 .
반각영숫자28 문자이내로입력할수있습니다 .
E. 솔더 조건
솔더에관한메모를해두는란입니다 .공란이어도상관없습니다 .
반각영숫자28 문자이내로입력할수있습니다 .
F. 기판면 정보
기판면을A 면 /B 면에서선택해주십시오 .
G. 데이터 로딩시 LIB 자동전개
데이터를읽어들였을때 ,라이브러리를자동으로전개시킬경우는 ,「사용」으로해주십시오 .
H. 푸시업 사용
기판푸쉬업을자동으로실행할경우는「일반」또는「고속」으로설정해주십시오 .
「고속」의경우는「일반」보다 ,기판고정시의푸쉬업타이밍및검사종료후의기판반송타이밍이
빨라집니다 .
I. 푸쉬업 상승 타이머 (sec)
푸쉬업사용이「고속」일경우에설정합니다 .기판반입시에검사위치의센서가기판을검출한후에
푸쉬업이동작할때까지의시간을설정해주십시오 .
J. 반출대기 타이머 (sec)
푸쉬업사용이「고속」일경우에설정합니다 .푸쉬업이하강한후에기판을반출할때까지의시간을
설정해주십시오 .
K. 생산수량
기판선택후의검사수량이표시됩니다 .초기값은「0」으로설정합니다 .
L. 생산예정 수량
생산할기판수량을설정합니다 .
「0」을입력한경우는 ,기판이공급되는한생산을계속합니다 .
「0」이외를입력한경우는 ,입력한기판수량만큼의생산이끝나면운전을정지합니다 .다음기판은
공급되지않습니다 .
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M. 부품결품시 동일 Ref 검사스킵
「사용」을선택한경우에는 ,부품체크및전극체크가NG 일때에 ,동일부품의검사를스킵하고다음
부품의검사를실행합니다 .
N. 패스모드
기판검사를실행하지않고 ,기판을반송합니다 .
O. 검사중단 NG 수
기판검사NG 수가여기에입력한수에도달하면검사를중지합니다 .검사결과는NG 로되며 ,
그다음기판의검사를속행합니다 .
P. AS SY 명
기판 ID 로설정할ASSY 명을입력해주십시오 .공란이어도상관없습니다 .
반각영숫자8 문자로입력가능합니다 .
Q. 총 검사수량
총검사수량을초기화한후의총검사수량이표시됩니다 .
R. NG 기판 수량
검사데이터선택후의NG 기판수량이표시됩니다 .
S. NG 블록 수량
검사데이터선택후의NG 블록수가표시됩니다 .
참고
총 검사수량을 초기화하려면 , [ 장비설정 ] 의「검사데이터 로딩시 생산수량을 초기화한다」에 체크하고 , 검사데이터를 선택
해 주십시오 .
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2.2 검사데이터의 읽기
이미 등록되어 있는 검사데이터를 읽어들이는 방법에 대해서 설명합니다 . 검사데이터를 읽은 후에는 , 코멘
트 등 검사파라미터를 편집할 수가 있습니다 .
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[ 셋업 ] 버튼을 눌러서「기판전환」화면을 표시합니다 .
2
검사데이터를 선택합니다 .
1. 검사데이터리스트로부터검사데이터를선택하고 ,[ 기판선택 ] 버튼을눌러주십시오 .
2. 선택한검사데이터가읽혀지고 ,스테이터스에리어에테이터명이표시됩니다 .
검사데이터의 전환
전환할 검사데이터를 선택한다
읽어들인 검사데이터
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