TR7500_Series_Software_ch-v5-0-0 - 第183页
Test Research Inc. TRI 7500 Series User Gu ide – Software 171 3.7.10 線上元件分析 (I NLINE C OMPONENT A NALYSIS ) 使用此功能可以自動收集元件檢測的資訊，並可以直接在 AOI 機器上查看結果。 3.7.10.1 啟動 Cpk 資 料 收集 (Enable Cpk Data Collection) 勾選表示啟動線…
Test Research Inc.
170 TRI7500SeriesUserGuide–Software
z [Apply Weighting]－將目前設定的權重套用到這個定位標記檢測上。
設定標記(1)搜尋範圍 – 調整影像畫面中的綠色方塊，使之合乎想要的搜尋範圍，接
著按下[確定]按鈕，即可完成設定。
相似度 – 設定定位標記的敏感度，若設定為 40分，表示在搜尋範圍內找到與標準
影像進行影像比對後，分數超過 40分的物件即認為其為對位標記。
3.7.7 重置 X Y TABLE(RESET X Y TABLE)
按下此按鈕可將 Camera移動至 Table 的原點位置(右上角)。
3.7.8 取出電路板(UNLOAD PANEL)
按下此按鈕可將電路板送至出板端
3.7.9 電路板定位測試(PANEL STANDBY TEST)
勾選此按鈕後可以設定電路板不出板檢測次數。再按一次選項可以取消。
Test Research Inc.
TRI7500SeriesUserGuide–Software 171
3.7.10 線上元件分析(INLINE COMPONENT ANALYSIS)
使用此功能可以自動收集元件檢測的資訊，並可以直接在 AOI 機器上查看結果。
3.7.10.1 啟動 Cpk 資料收集(Enable Cpk Data Collection)
勾選表示啟動線上元件分析，系統會出現設定視窗。
Test Research Inc.
172 TRI7500SeriesUserGuide–Software
X-Shift、Y-shift、Theta 分別代表各元件的水平位移、垂直位移、偏移角度。
高、低–位於此範圍內的檢測結果才列入 Cpk 計算。
USL–計算 Cpk公式所需的規格上限
LSL–計算 Cpk 公式所需的規格下限
CpkSpec–可自訂所計算出的 Cpk 容許值，高於此值可視為正常，低於此值視為異
常。
z 無–不自動輸出
z 檢測時間–依照檢測時間自動輸出(單位：小時)
z 檢測次數–依照檢測次數自動輸出