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Test Research Inc. 172 TRI 7500 Series User Gu ide – Software X-Shift 、 Y-shift 、 Theta 分別代表各元件的水平位移、垂直位移、偏移角 度 。 高、低–位於此範圍內的檢測結果才 列 入 Cpk 計算。 USL –計算 Cpk 公式所需的規格上限 LSL –計算 Cpk 公式所需的規格下限 CpkSpec –可自…
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TRI7500SeriesUserGuide–Software 171
3.7.10 線上元件分析(INLINE COMPONENT ANALYSIS)
使用此功能可以自動收集元件檢測的資訊，並可以直接在 AOI 機器上查看結果。
3.7.10.1 啟動 Cpk 資料收集(Enable Cpk Data Collection)
勾選表示啟動線上元件分析，系統會出現設定視窗。
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172 TRI7500SeriesUserGuide–Software
X-Shift、Y-shift、Theta 分別代表各元件的水平位移、垂直位移、偏移角度。
高、低–位於此範圍內的檢測結果才列入 Cpk 計算。
USL–計算 Cpk公式所需的規格上限
LSL–計算 Cpk 公式所需的規格下限
CpkSpec–可自訂所計算出的 Cpk 容許值，高於此值可視為正常，低於此值視為異
常。
z 無–不自動輸出
z 檢測時間–依照檢測時間自動輸出(單位：小時)
z 檢測次數–依照檢測次數自動輸出
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3.7.10.2 Cpk 資料報告(Cpk Data Report)
有勾選[Cpk 資料收集]，此按鈕才會作用。按下次按鈕可以檢視先前收集的[Cpk 資料
報告]。
此欄位變成可
以點選
Cpk 資料報告格式