TR7500_Series_Software_ch-v5-0-0 - 第367页
Test Research Inc. TRI 7500 Series User Gu ide – Software 355 Similarity – 待測影像與標準影像之相似 度 標準 Shift X – 待測元件之 X 方向位移的容許程 度 Shift Y – 待測元件之 Y 方向位移的容許程 度 Rotation – 待件元件之旋轉角 度 的容許程 度 Level difference…
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354 TRI7500SeriesUserGuide–Software
4.10 檢測框原理及參數設定
4.10.1 影像比對方法
4.10.1.1 方法一(Method 1)–幾何學特徵比對
將影像的輪廓特徵值記憶，並作為比對的特徵。[Missing]框即是使用此方法作比對，
而[Warp]框也可以選擇使用本方法進行影像比對。
4.10.1.2 方法二(Method 2)–標準化相關性比對
將影像灰階特徵記憶，並在待測影像之搜尋範圍內找尋最為相似的影像。[Lead]框即
是使用此方法作比對，而[Warp]框也可以選擇使用本方法進行影像比對。
4.10.1.3 方法三(Method 3)–投影特徵比對
將影像的灰階投影至兩軸後，以其投影的圖形作為比對的特徵。[Align]框即是使用此
方法作比對。
4.10.2 檢測原理與參數設定
4.10.2.1 Model image (Missing/Missing Polarity)
用來檢查零件之缺件、損件、偏移、立碑、極性。本檢測框採用影像幾何學特徵比對
之原理(方法一)，擷取一個好的影像當樣本，再將待測元件與之比對。[Missing
Polarity]框會將旋轉 180 度的影像會判定為瑕疵，但[Missing]框會判定為通過。
檢測參數設定畫面
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TRI7500SeriesUserGuide–Software 355
Similarity – 待測影像與標準影像之相似度標準
Shift X – 待測元件之 X方向位移的容許程度
Shift Y – 待測元件之 Y方向位移的容許程度
Rotation – 待件元件之旋轉角度的容許程度
Level difference – 系統會檢測[Missing]框正中央 10x10畫素區域的灰階平均值。舉
例而言，若標準元件對於灰階值學習的結果為 100，而參數設定為 35，表示待測元
件的檢測結果若大於 135或小於 65都會顯示為瑕疵。
Polarity Check – 勾選表示若元件旋轉 180 度會判定為缺陷。
Level Check – 勾選表示[Level Difference]功能開啟。
4.10.2.2 Lead
用來檢查 IC腳之缺件、偏移、腳彎。採用方法二之影像比對方式，擷取一個好的 IC
腳影像當樣本，再將待測元件與之比對。
檢測參數設定畫面
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Similarity – 待測影像與標準影像之相似度標準
Shift X – 待測元件之 X方向位移的容許程度
Shift Y – 待測元件之 Y方向位移的容許程度
Skew Difference – 相鄰兩個[Lead]框之間的高低差的容許程度
Shift Mode – 若勾選本項目，表示以檢測框中心位置的偏移量取代 X及 Y 方向的偏
移量參數。數值標示檢測框中心位置偏移量的容許程度。
4.10.2.3 Void
此檢測框是用來檢查元件的空焊、缺件、極性。利用灰階值(0-255)來設定門檻值及所
佔比例來判斷是否通過檢測，且可以設定檢測框是要抓亮還是抓暗。