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Test Research Inc. 402 TRI 7500 Series User Gu ide – Software 16) 復 原被刪除檢測框 (Undelete Box) – 點選本按鈕可將上一次被使用 [ 刪除框 (Del Box)] 刪除的檢測框 復 原。 17) 旋轉檢測框的方向性 (Rotate Box Side) – 按一次可以將檢測框的方向性旋轉 90 度 。 18) 邏 輯設定 (Set …
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12) 貼上檢測框(Paste Box) – 貼上先前拷貝或是剪下的檢測框。首先選擇所要的檢
測框並按下[拷貝檢測框]或[剪下檢測框]，接著在目標 FOV 上按下[貼上檢測框]，
此時還不會出現檢測框，需將滑鼠移動到正確位置再按下滑鼠左鍵，會出以下對
話窗，輸入此顆元件資訊後，按下[確定]即可。在新增元件的附近 2mm 的範圍
內若有其它的元件，則無法貼上檢測框。
13) 移動到左邊 FOV (Move to Left FOV) – 將選擇的檢測框移動到左邊 FOV 內檢
測。
14) 移動到右邊 FOV (Move to Right FOV) – 將選擇的檢測框移動到右邊 FOV 內檢
測。
15) 移動所有檢測框 (Move All Boxes) – 本功能可一次移動程式中，位於同一支攝影
機的所有檢測框。點選後會出以下對話方塊，可輸入欲移動的畫素數，正 X代表
向右移，正 Y代表向下移，接著按下[OK]按鈕即可。若有一檢測框移動後會超出
該檢測框所在的 FOV位置或在 FOV 影像邊緣 8 畫素內，則該檢測框不會移動。
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16) 復原被刪除檢測框(Undelete Box) – 點選本按鈕可將上一次被使用[刪除框(Del
Box)]刪除的檢測框復原。
17) 旋轉檢測框的方向性(Rotate Box Side) – 按一次可以將檢測框的方向性旋轉 90
度。
18) 邏輯設定(Set Logic) – 按此按鈕會出現邏輯設定視窗，可在此設定元件的檢測方
法。邏輯的設定詳見 4.9.8.1。
19) 檢視邏輯(View Logic) – 檢視本專案內所有設定的邏輯，且可以在此選擇邏輯將
之刪除。
20) 逆邏輯(Inverse Logic) – 按此按鈕可將本檢測框的[逆邏輯]功能打開，被設定逆
邏輯的檢測框檢測後，若其結果為通過比對條件則系統會顯示[Inverse Fail]， 而
未通過比對條件者系統會顯示[Pass]。
21) 測試(Test) – 將選擇的檢測框設定為[測試檢測框]或[測試元件]。其設定與[不測]
相對應。
22) 不測(UnTest) – 將選擇的檢測框設定為[不測檢測框]或[不測元件]。[不測檢測框]
表示僅選擇的檢測框設為不檢測，設定後其圖示將變更成為深藍色框，[不測元
件]表示該元件之所有檢測框接設定為不測，圖示將變更成為灰色框。
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23) 回傳元件庫(Set to Library) – 可選擇將選擇的檢測框的[比對條件屬性]、[搜尋範
圍]、[權重]、[測試標記]、[逆邏輯]、[代料]、[大小及位置]與[錯誤字串]回傳至元
件資料庫(Library)。同時僅可點選一個元件所含的檢測框。[測試標記]為本檢測
框測試或不測試的設定；[大小及位置]只有與其它檢測框連結的子檢測框可以選
擇本選項，表示回傳其大小及其與母檢測框的相對位置。
24) 改變形狀(Change Shape) – 本功能可以將選擇的[Void]或[Solder]框改變形狀，
可由矩形改變為圓形或由圓形改變為矩形。
25) 傳送 BMP 到維修站(Send BMP to RS) – 可將選定的[Missing]框的代料影像以
BMP 的形式傳至維修站。目的是對於小顆的元件，在維修站將影像放大檢查
時，影像品質較佳。
26) 設定控制框角度(Set Control Box Angle) – 可指定萬用框旋轉角度。