IM7580阻抗分析仪规格书.pdf - 第4页
0. 1 0 0.02 0.01 0.04 0.03 0.06 0.05 0.08 0.07 1 0.5m s 10 4 高速·稳定测量 重复精度与模拟测量时间 (各测量频率的参考数据) 在测量中实现高速及高稳定性兼顾。 缩短工时，提高产能。 0.1 0.1 0.1 模拟测量时间 [ms] 模拟测量时间 [ms] 模拟测量时间 [ms] 模拟测量时间 [ms] IM7587，IM7583，IM7585 IM7580A，IM7581 测量…
准确的测量从高品质的设计开始
宽频带的稳定测量
将高稳定性测量变为可能的主机测量部分
大型固态屏蔽层带来的高性能化
为了实现良好的频率特性，根据基本原理设计各回路·基板组件·外壳
结构等方面。
此外通过数据分析和严谨的验证将内部基板式样的形状以及屏蔽结构调
整成最适用的状态，从而实现 100kHz~3GHz 良好的频率特性，这些技
术精华都凝聚于这台小巧的机身之中。
关于测试头的测量端子，为了提高在宽频带测试下的测量精度，采用频
率范围更广的 3.5mm 连接器，比其他微波连接器在频繁地脱卸场景中
拥有更好的重复性能。
测量部分采用高分辨率 A/D 转换器。通过控制输入信号的电平和频率，
最大程度的利用了A/D 转换器的动态范围，实现了宽量程范围的阻抗测
试和最小偏差的测量。
模拟回路中搭载的辅助 FPGA 中使用了最佳的数字滤波器，它能消除各
回路中的干扰。此外，主要 FPGA 是通过将 64bit 浮点运算进行多段传输，
以减少误差实现高速运算处理。致力于测量的稳定性和高速化。
采用了贴合基板和 IC 形状的固态屏蔽层，降低了内部的交互耦合现象。
此外，还降低了对外部的辐射影响，提高了抗干扰性能，在机身做到最
轻量级别的同时也满足 EMC 的高
标准。
用于 IM7583，IM7585，IM7587 的测试头
固态屏蔽层内部
3
0.1
0
0.02
0.01
0.04
0.03
0.06
0.05
0.08
0.07
10.5ms 10
4
高速·稳定测量
重复精度与模拟测量时间
(各测量频率的参考数据)
在测量中实现高速及高稳定性兼顾。
缩短工时，提高产能。
0.10.1
0.1
模拟测量时间 [ms]模拟测量时间 [ms]
模拟测量时间 [ms]
模拟测量时间 [ms]
IM7587，IM7583，IM7585 IM7580A，IM7581
测量频率 200 kHz 测量频率 100 MHz
测量频率 500 MHz
测量频率 3 GHz
信号电平：+1 dBm
被测物：1 nH
信号电平：+1 dBm
被测物：1 nH
信号电平：+1 dBm
被测物：100 nH
信号电平：+1 dBm
被测物：100 μH
重复精度(Z，3CV) [%]
重复精度(Z，3CV) [%]
重复精度(Z，3CV) [%] 重复精度(Z，3CV) [%]
00
0
0.0040.004
0.1
0.0080.008
0.2
0.0120.012
0.3
0.020.02
0.0160.016
0.4
11
10.5ms
0.5ms0.5ms 1010
10
所有机型
(模拟测量时间)
最快
0.5ms
5
小巧机身，机动性提升 手掌大小的测试头
大画面显示操作舒适
半个测试机架大小的紧凑型机身除了
用于产线，其轻便性还能够适应各种
测量环境。
测试头也采用仅手掌大小的紧凑设
计，可设置于被测物的附近。不易受
到干扰影响，可实现更为准确的测
量。
大画面显示，根据使用场合可改变亮
度、颜色以及显示尺寸。舒适的触摸
屏操作带来舒适的测量体验。
节省一半空间的小巧尺寸
一个测试机架可同时并列放置两台。
对于这个级别的测试仪而言已经是非常轻巧紧凑的机身了。
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