IM7580阻抗分析仪规格书.pdf - 第7页

7 可将任意频率和电平信号施加到需要测量的元件上进行测量。 适用于电容器，线圈等被动元件的评估。 对测量频率，测量信号电平进行扫描的同时进行测量。 适用于频率特性或电平特性的确认。 2种模式测量 LCR模式 分析模式 测量项目可选以下任意4种同时测量。 Z 阻抗 G 电导 Rp 等效并联电阻 Cp 等效并联电容 Y 导纳 B 电纳 Ls 等效串联电感 D 损耗系数 tanθ θ 相位角 Q Q因素 Lp 等效并联电感 V 监测电压 ※ …

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根据频率有5种机型可供选择
图为：IM7581
图为：IM7585
图为：
IM7
581
图为：IM7585
阻抗分析仪　
IM7580A
阻抗分析仪　
IM7583
阻抗分析仪　
IM7581
阻抗分析仪　
IM7585
5种机型对应的大范围测量频率
测量频率 1 MHz～300 MHz
测量范围 L： 0.0531 nH～0.795 mH
C： 0.1061 pF～1.59 F
(根据测量频率而定)
测量信号电平 -40.0 dBm～+7.0 dBm
基本精度 Z：0.72% rdg. θ：0.41°
测量频率 100 kHz～300 MHz
测量范围 L： 0.0531 nH～7.95 mH
C： 0.1061 pF～1.59 F
(根据测量频率而定)
测量信号电平 -40.0 dBm～+7.0 dBm
基本精度 Z：0.72% rdg. θ: 0.41°
测量频率 1 MHz～3 GHz
测量范围 L： 0.0053 nH～0.795 mH
C： 0.011 pF～15.9 F
(根据测量频率而定)
测量信号电平 -40.0 dBm～+1.0 dBm
基本精度 Z：0.65% rdg. θ: 0.38°
测量频率 1 MHz～600 MHz
测量范围 L： 0.0265 nH～0.795 mH
C： 0.0531 pF～1.59 F
(根据测量频率而定)
测量信号电平 -40.0 dBm～+1.0 dBm
基本精度 Z：0.65% rdg. θ: 0.38°
测量频率 1 MHz～1.3 GHz
测量范围 L：0.0123 nH～0.795 mH
C： 0.0245 pF～1.59 F
(根据测量频率而定)
测量信号电平 -40.0 dBm～+1.0 dBm
基本精度 Z：0.65% rdg. θ: 0.38°
IM7580A
1MHz~600MHz
1MHz~1.3GHz
1MHz~3GHz
IM7581
IM7583
IM7585
IM7587
100 kHz 1MHz 10MHz
100 MHz
1GHz
3GHz
1MHz~300MHz
100kHz~300MHz
阻抗分析仪
IM7587
7
可将任意频率和电平信号施加到需要测量的元件上进行测量。
适用于电容器，线圈等被动元件的评估。
对测量频率，测量信号电平进行扫描的同时进行测量。
适用于频率特性或电平特性的确认。
2种模式测量
LCR模式
分析模式
测量项目可选以下任意4种同时测量。
Z 阻抗 G 电导 Rp 等效并联电阻 Cp 等效并联电容
Y 导纳 B 电纳 Ls 等效串联电感 D 损耗系数 tanθ
θ 相位角 Q Q因素 Lp 等效并联电感 V 监测电压
※
X 电抗 Rs 等效串联电阻 ESR Cs 等效串联电容 I 监测电流
※
※ 仅限分析模式
上下限值判断：设置上下限
百分比判断：基于标准值设置百分比上下限值
- 显示HI
-
显示IN
- 显示LO
偏差百分比判断： 基于标准值设置百分比上下限值
显示测量值与标准值的偏差(
％
)
比较测量　以1个判定标准为基础对元件的合格与否进行判断。 Display显示
多种显示功能
HI
IN
LO
上限值
标准值
下限值
BIN1 BIN2 BIN3 BIN4 BIN5 …… BIN10
IN
BIN测量 使用多个判断标准对元件进行划分。
设置每个BIN的上下限值，最多可划分为10组。
※上下限值的设置与比较器相同。
测定标准范围
放大显示功能
监测功能
实时显示施加到零部件
上的测量信号电平。
监测电压：0.0 mV - 1000.0 mV
监测电流：0.000 mA - 20.000 mA
放大显示测量值，在产线
等现场也能清晰看到。
扫描项目(频率或电平)
设置扫描范围、扫描点数、测量
条件后测量
设置每个分段的扫描项目、扫描范
围、扫描点数、测量条件后测量。
普通/分段扫描　通过扫描频率、电平来观察元件的特性
间隔扫描　固定测试条件下观察元器件在时间变化过程中的特性
普通
分段
扫描项目 频率/信号电平(功率，电压，电流)
扫描点/分段数 最多801点/最多20分段(合计801点)
测量条件设置项目 频率/电平/速度/平均
测量条件设置项目 频率/电平/速度/平均
间隔时间 0s～1000s
扫描点/分段数 最多801点/最多 20段(合计801点)
○ 扫描图表(1图表/4图表显示)
○ XY图表显示(1图表/2图表显示)
○ 多重显示(扫描，XY同时显示)
○ 列表显示　　○ 峰值显示
根据测量可切换图表显示
(共7种)
根据
根据
测
测
切
切
换
换
8
智能的测量和分析
连续测量功能
测量值查找功能
对测量、确认测量结果、判定测量值来说十分便捷的功能。
■ 分析模式下可用的功能
● LCR模式下可用的功能
■ ●
■
使用面板保存功能按照所保存的测量条件进行连续
测量。
还可和LCR/分析模式的测量条件组合进行测量。
组合后最多可连续测量46个。
也能通过外部控制端子(Handler interface EXT I/O)来执行。
使用LCR模式、分析模式可保存并读取所设的测量条
件、补偿值、补偿条件。
面板保存和读取功能
可保存面板数
LCR模式测量条件 30个
分析模式测量条件 16个
A连续测量中所设的面板No./B测量值/C各参数的判定结果
选择分析模式的面板就能看到波形
AB BCC
对于1个扫描的测量结果，可以自动的移动光标至任
意的测量值点上。
扫描测量结束后，自动按照设置移动光标。
自动查找功能
查找设置类型
最大值 移动光标至最大值
最小值 移动光标至最小值
目标值 移动至任意设置的测量值位置
极大值 移动光标至极大值(可设置滤波器)
极小值 移动光标至极小值(可设置滤波器)
A光标/B查找结果点/C结果点测量值
A
B
C