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Betriebsanleitung SIPLACE CA-Serie 7 Stationserweiterungen Ausgabe 08/2011 DE 7.14 Vision-Tea chplatz 481 7.14 Vision-T eachplatz [001 19788-xx]Vision-T eachplatz 7 Abb. 7.14 - 1 Vision-T eachplatz mit BE-Kamera, T yp 33
7 Stationserweiterungen Betriebsanleitung SIPLACE CA-Serie
7.13 Koplanaritäts-Lasermodul Ausgabe 08/2011 DE
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Abb. 7.13 - 4 Koplanaritäts-Lasermodul
(1) Lasersensor
(2) Detektor
(3) Laseremitter
(4) Montagewinkel
(5) Controller
(6) LED-Anzeigen, Anschlüsse am Controller
Betriebsanleitung SIPLACE CA-Serie 7 Stationserweiterungen
Ausgabe 08/2011 DE 7.14 Vision-Teachplatz
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7.14 Vision-Teachplatz
[00119788-xx]Vision-Teachplatz
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Abb. 7.14 - 1 Vision-Teachplatz mit BE-Kamera, Typ 33
7 Stationserweiterungen Betriebsanleitung SIPLACE CA-Serie
7.14 Vision-Teachplatz Ausgabe 08/2011 DE
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7.14.1 Übersicht
Der Vision-Teachplatz ist ein System zum Erstellen und Testen von Gehäuseformbeschreibungen
für Bauelemente, die an SIPLACE-Bestückautomaten verarbeitet werden.
Der Vision-Teachplatz besteht im Wesentlichen aus folgenden Komponenten:
– Grundmodul mit Elektronik und bis zu zwei BE-Kameras
– Minitower-PC
Betriebssystem WINDOWS XP 7
Bildverarbeitungssoftware SIPLACE -Vision 7
Datenbank-Server SIPLACE Pro 7
Kameraschnittstellen: CAN-Bus-Karte und Kamera-Bus-Karte 7
7.14.2 Beschreibung
Am Vision-Teachplatz lassen sich unabhängig von den Bestückautomaten Beschreibungen für
Gehäuseformen erstellen und testen oder eine Bauelemente-Inspektion durchführen.
Die erstellten Gehäuseformbeschreibungen können Sie in der SIPLACE Pro-Datenbank am
Vision-Teachplatz abspeichern und in die SIPLACE Pro-Datenbank des Produktionssystems
transferieren. Zudem haben Sie die Möglichkeit, Vision-Bildschirmausdrucke von Bestückauto-
maten in den Vision-Teachplatz zu laden und hier zu analysieren. Lediglich Mehrfachmessungen
von Bauelementen sind noch am Bestückautomaten durchzuführen.
7.14.3 Vorteile
Der große Vorteil dieses Offline-Systems besteht darin, dass es völlig unabhängig von den Pro-
duktionssystemen ist und für das Erstellen und Testen von Gehäuseformbeschreibungen keine
Ressourcen der Produktionssysteme mehr herangezogen werden müssen. So kommt es nicht
länger zu Produktivitätsverlusten durch das Beschreiben und Testen von Gehäuseformen. Auch
die Einführungszeiten für neue Produkte lassen sich mit diesem unabhängigen System erheblich
reduzieren.