CX-1_使用说明书 - 第198页
第 1 部 基本编 第 2 章 生产 2-10-6-3 激光高度检查 使用激光检查元件数据中设置的激光高度值。 1) 激光高度检查功能 激光高度检查中，有“连续检查”和“单独检查”2种模式。 单独模式可指定任意的、或检测后的激光高度值进行检查。 表 2-10-6-3-1 检测模式内容与菜单 工具菜单 运行模式 运行内容 单独检查 对连续检查模式中出错的元件进行个别 检查。 激光高度检查 连续检查 检查生产程序数据内的所有元件/条件一致的…
第 1 部 基本编 第 2 章 生产
要强行中止检查时，请按停止按钮。显示如下信息。单击“是”后，可中断检查。
图 2-10-6-2-7 确认结束检查
检查结果为“‘OK’以外的错误时”,显示如下画面。单击“是”，进入单独检查模式。
图 2-10-6-2-8 连续检查错误
指定的全部元件检查结束后，显示如下画面。
单击「确定」。
图 2-10-6-2-9 检查结束
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第 1 部 基本编 第 2 章 生产
2-10-6-3 激光高度检查
使用激光检查元件数据中设置的激光高度值。
1) 激光高度检查功能
激光高度检查中，有“连续检查”和“单独检查”2种模式。
单独模式可指定任意的、或检测后的激光高度值进行检查。
表 2-10-6-3-1 检测模式内容与菜单
工具菜单 运行模式 运行内容
单独检查
对连续检查模式中出错的元件进行个别
检查。
激光高度检查
连续检查
检查生产程序数据内的所有元件/条件一致的
产品。可对在检查中因某种原因而失败的元
件, 通过单独模式进行个别检查。
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第 1 部 基本编 第 2 章 生产
2) 各种动作
① 吸取时使用的贴片头
自动选择吸取贴片头。
为减少更换吸嘴，优先使用已安装好吸嘴的贴片头。根据吸嘴的安装情况，每次检测时，
贴片头有可能不同。
② 检查后的元件返还
检查后的元件，将被放回原来的位置或被废弃。如下(表2-10-6-3-2)所示，因包装而异。
废弃场所应根据元件数据中的“元件废弃”设置，进行废弃。由于1mm以下的元件在返还时
可能会出现元件竖立、倒置等现象，请根据询问画面选择具体处理。
表 2-10-6-3-2 元件返还/废弃条件
包装 条件 1 条件 2 返还 废弃
32mm 供料器
－ ○
外形尺寸短边 1mm 以下 询问 *1
带状
32mm 供料器以外
外形尺寸短边 1mm 以上 ○ ○ *2
外形尺寸短边 1mm 以下 询问 *1
散件 －
外形尺寸短边 1mm 以上 ○ ○ *2
托架
○ ○ *2
MTS
○ ○ *2
管状
－ ○
*1 将显示询问画面，请选择返还或废弃元件。连续检测时，在开始前询问。
*2 废弃方法为“IC回收传送带”、“元件保护”时，进行废弃。
③ 选择吸取供给装置
当同一元件有多个供给装置(吸取数据)时，初始值为从最初输入的数据开始吸取元件。也
可根据需要改变供给装置。
④ 修改吸取坐标
无法顺利吸取时，可手动输入或用HOD设备进行坐标示教，修改吸取坐标。
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