赫立AOI之GRR数据报告制作流程 - 第4页

版权所有: 2006 上海赫 立电子科技有 限公司 制作检测元件样本之GRR检测库 窗口一:使用算法“片式元件定位”,输入“本体长度”、“本体宽度” 及“电极长度”。并将搜索窗口拉大至合适的范围大小。

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制作主MARK检测库
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制作检测元件样本之GRR检测库
窗口一:使用算法“片式元件定位”,输入“本体长度”、“本体宽度”
及“电极长度”。并将搜索窗口拉大至合适的范围大小。
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制作检测元件之GRR检测库
窗口二:使用算法“相对偏移值”,并将“相对偏移量”选中打钩。