KE-3010_20V_使用说明书 - 第616页

第 1 部 基本编 第 4 章 制作生产程序 3) 元件真空压力测量 功能 测量吸取元件时 的真空压力。 测量方式如下所示。 对象元件 方式 激光识别元件 图像识别元件 ① 吸取元件, 获得 Hea d 真空压力级别。 ↓ ② 将获得的值 作为 Hea d 真空级别。 4) 引脚信息测量功能 利用图像识别装 置测量引脚信息 。仅限于图像 定中心的元件进 行测量。测量 方法如下。 对象元件 方式 图像识别元件 ①利用图像识别 装置识别元件…

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1 基本编 4 制作生产程序
4-5-4-2-2 测量种类
各种测量项目的功能概要如下表所示。
测量项目
测量内容
备注
元件尺寸(纵横)
测量实际的元件外形尺寸
元件横方向
元件纵方向
自动计算最适合的吸嘴编号
吸嘴编号
吸取时的真空压
测量实际的元件吸取时的真空压
元件高度
测量实际的元件高度
元件高度
自动计算最适合的激光定心值
仅图像定中心
激光高度
芯片站立判定值
引脚尺寸
测量实际的引脚尺寸
仅激光定中心
引脚间距
引脚长度
引脚个数/欠少信息
CDS
高度
(仅
KE-3020V
CDS 高度
图像识别元件时
可以测量
(1)
测量项目的各种功
1)
元件尺寸测量功能
通过激光及图像识别装置测量元件的纵横尺寸
同时自动计算最适合的吸嘴编号。测量方式如下所示。
对象元件
方式
激光识别元件
①用激光获得当前的元件角度
②将 θ 旋转到 0 度,以激光宽度作为横向尺寸
③将
θ
旋转到
90
度,以激光宽度作为纵向尺寸
图像识别元件
①用图像识别装置识别元件获取元件外形尺寸
②以应答后获得的值作为纵横尺寸。
2)
元件高度测量功能
用激光测量元件高度。同时自动计算最适合的激光高度及芯片站立判定值。
测量方式如下所示。
对象元件
方式
激光识别元件
图像识别元件
上下移动元件。
②将元件有阴影的范围作为高度尺寸。
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1 基本编 4 制作生产程序
3)
元件真空压力测量功能
测量吸取元件时的真空压力。测量方式如下所示。
对象元件
方式
激光识别元件
图像识别元件
吸取元件,获得
Head
真空压力级别。
将获得的值作为
Head
真空级别。
4)
引脚信息测量功能
利用图像识别装置测量引脚信息。仅限于图像定中心的元件进行测量。测量方法如下。
对象元件
方式
图像识别元件
①利用图像识别装置识别元件获取引脚信息。
②将获得的值作为引脚尺寸。
5) CDS
高度测量功能
(
KE-3020V)
用激光测量 CDS 高度。测量方法如下所示。
对象元件
方式
图像识别元件
上下移动元件。
②将元件的阴影部分范围作为高度尺寸。
(2)
元件类型本身的测量项目限制
因元件数据的元件类型不同,测量项目会受到下列限制。
编号
元件类型
定中心
方式
测量项目
元件尺寸
吸取真空
压力
激光
高度
引脚
信息
CDS
高度
纵横
高度
方形芯片
激光
圆筒形芯片
激光
铝电解电容
激光
图像
GaAsFET
激光
图像
SOT
激光
SOP
激光
图像
*1
*1
SOJ
激光
图像
QFP
激光
图像
*1
*1
PLCC(QFJ)
激光
图像
10
PQFP(BQFP)
激光
图像
*1
*1
11
TSOP
激光
图像
*1
*1
4-211
1 基本编 4 制作生产程序
编号
元件类型
定中心
方式
测量项目
元件尺寸
吸取真空
压力
激光
高度
引脚
信息
CDS
高度
纵横
高度
12
TSOP2
激光
图像
*1
*1
13
BGA
激光
图像
14
网络电阻
激光
15
微调电容器
激光
16 单向引脚连接器
激光
*2
图像
*1, *2
17 J 引脚插座
激光
图像
18 鸥翼形插座
激光
图像
19 带减震器的插座
激光
图像
20
其他元件
激光
21 双向引脚连接器
激光
*2
图像
*1
*1, *2
22 带散热器 SOP
激光
图像
*1
23
FBGA
图像
24 Z 引脚连接器
激光
图像
25
扩展引脚连接器
图像
26
通用图像元件
图像
27
方形芯片(
LED
激光
28
QFN
激光
29
外形识别元件
图像
○:可以测量。
△:可将定中心方式设定为图像后获得的测量结果加以利用。
*1 引脚根数仅限于每 1 列引脚在 7 根以上的元件。(SOP 14Pin 为可测量)
*2 由相同引脚形状构成,且引脚两端没有臂、金属零件的元件
引脚信息,取决于被测量元件的引脚条件,有时可能无法测量
测量功能的对象限于元件外形尺寸□33.5mm以下的元件。
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