KE-3010_20V_使用说明书 - 第621页
第 1 部 基本编 第 4 章 制作生产程序 2) 正在进行单独测量的画 面 在单独测量过程 中， 显示如下画面。 显示正在进行 单独测量的元件 的内容及吸取位 置， 并依次显 示进行中的处理 内容。 a) 全体的进展状况 在进度条上显示 当前的进展状况 。 要强行中断测量 时，请按下 < STOP > 开关 ，则显示以下 信息。请选择 是否中断测量。 4- 216
第 1 部 基本编 第 4 章 制作生产程序
＜变更吸取坐标的方法＞
用于测量的元件的吸取位置与实际有差异时，可使用示教功能进行贴片坐标的示教。
此外，不进行示教而用手动输入也可变更坐标。
步骤1) 要示教XY坐标时，将光标移动到X或Y坐标。
（要进行Z坐标的示教时，请将光标移动到Z坐标。）
步骤 2）按下功能栏的“示教”按钮，打开示教画面。
进行坐标示教，按下“OK”按钮，取得所示教的坐标数据。
c)
测量项
选择需要测量的项目。默认为选择所有可测量的项目。根据元件类型，可测量的项目有所不
同。
d) [
单独测量
]
按钮
执行单独测量。
e) [
前代替元件
]
按钮、
[
后代替元件
]
按钮
如果当前显示的元件有代替元件时，显示此项。
f) [
返回
]
按钮
结束单独测量，返回到原来的画面。
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第 1 部 基本编 第 4 章 制作生产程序
2)
正在进行单独测量的画面
在单独测量过程中，显示如下画面。显示正在进行单独测量的元件的内容及吸取位置，并依次显
示进行中的处理内容。
a)
全体的进展状况
在进度条上显示当前的进展状况。
要强行中断测量时，请按下< STOP >开关，则显示以下信息。请选择是否中断测量。
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第 1 部 基本编 第 4 章 制作生产程序
因元件的包装方式而有所不同，当元件尺寸在 1mm 以下时，会显示询问测量后的元件是归还、或
是废弃信息。
根据尺寸计算出的激光高度或芯片站立判定高度与原来的值不同时，显示如下询问。
·
激光高度覆盖确认
·
芯片站立判定高度覆盖确认
●是：用测量的新数据覆盖原来的设置值。
●否：忽略新测量值，使用原来的设定值。
检测出芯片站立时，会显示以下提示信息。
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