KE2010取扱説明書Ver.2.01和文Rev.08 - 第542页
8 - 21 ステータス ステータス ステータス ステータス 説明 説明 説明 説明 ７９ ウインドウ全体が遮られている。 異物が無いかセンサをチェックする。 ８０ ウインドウの左端が遮られている。 部品の位置をチェック。 ８１ ウインドウの右端が遮られている。 部品の位置をチェック。 ８２ ウインドウの両端が遮られている。 部品の位置をチェック。 ８３ チェックサム不正 EEPROM を読んでいる間にソフトウェアがエラーを見つけた…
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計測(SWEEP)や計測(ONCE)の結果を取得したときにレーザが返してくるステータス一覧を示しま
す。
レーザのステータス一覧
レーザのステータス一覧レーザのステータス一覧
レーザのステータス一覧
ステータス
ステータスステータス
ステータス
説明
説明説明
説明
１
コマンドが正常に実行されたことを示します。
５
接続エラー
＊ケーブルのい断線、接触不良等が原因として考えられます。
７
アルゴリズム指定無しの動作が要求されました。結果は無効。
８
センサが接続されていないかハードウェアエラーが発生しています。
１０
センサアラー
センサの同軸ケーブルの接触に関して不特定のハードウェアエラーが発生。
１２
EEPROM バージョン不正
ソフトウェアが EEPROM バージョンを確認できなかった。
ソフトウェアのアップグレードが必要。
１３ EEPROM データ不良
SCM（サンサコントロールモジュール）の EEPROM がデータエラーを通知してきた。
電源を切り再起動してみる。
１４ EEPROM シンクロエラー
電源を切り再起動してみる。
１５ 正常に動作させるための入力電圧が低下しています。
１７ 入力電流が低くなっているか出力電流が制限値を越えている。
６０ 通信バッファに設定されたデータが指定した長さよりも短いデータでした。
６１ 通信バッファに設定されたデータが指定した長さよりも長いデータでした。
６２ 指定した長さが発行したコマンドの長さよりも短い長さでした。
６３ 指定した長さが発行したコマンドの長さよりも長い長さでした。
６４ 部品を検出できませんでした。
６５ フレームレート維持不能
LA が入力データを認識に必要な速度で読み込めなかった。
部品の影に変化が多すぎる場合や部品の位置決めが正しくない時に発生する。
６７ 測定中断
最小幅検出の前に LA がコマンドを受け取ったため、測定が中断された。
７０ アルゴリズムエラー
ファームウェアが起こるはずのない状態を検出した。
７５ SWEEP_CMD 中に第１、第２、第３計測でエラーが発生すると、それぞれ第２、第３、第
４計測の処理をそれぞれ止める。
このエラーは第２、第３、第４の結果時にしか通知されません。
７７ センサ上の影のエッジが部品のエッジを正確に見つけだすのに十分なコントラストを持っ
ていません。
部品の影が乏しい（部品がレーザービームを完全に遮っていない）ときに発生。
７８ ウインドウを決定するウインドウパラメータが 2000micron を下回っている。
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ステータス
ステータスステータス
ステータス 説明
説明説明
説明
７９ ウインドウ全体が遮られている。
異物が無いかセンサをチェックする。
８０ ウインドウの左端が遮られている。
部品の位置をチェック。
８１ ウインドウの右端が遮られている。
部品の位置をチェック。
８２ ウインドウの両端が遮られている。
部品の位置をチェック。
８３ チェックサム不正
EEPROM を読んでいる間にソフトウェアがエラーを見つけた。
レーザを初期化してみる。
８４
２重のスタート
EEPROM を読んでいる間にソフトウェアがエラーを見つけた。
レーザを初期化してみる。
８５
EEPROM 開始データが無い。
EEPROM を読んでいる間にソフトウェアがエラーを見つけた。
レーザを初期化してみる。
８６
パラメータ不正
コマンドに対して無効なパラメータが指定された。
パラメータが正しく入れられたことを確認。
８７
データ不正
無効なデータが検出された。
９０
角度計算でエラーが発生しました。
９１
角度計算でエラーが発生しました。
９２
角度計算でエラーが発生しました。
９３
幅対角度の曲線が平坦すぎる。
小さい部品を非常に遅い速度で回転させたときに起こる。
９４
角度計算でエラーが発生しました。
９５
角度計算でエラーが発生しました。
９６
角度計算でエラーが発生しました。
９８
最小幅を検出する前に角度が指定されたリミットを越えた。
９９
始めの処理(REPORTW_CMD から)が、次の最小幅検出開始（ホールオフ角度により指定さ
れる）の前に完了しなかった。
１００
初期化が必要な情報の要求に先だって必要な初期化が実行されていない。
REPORTW_CMD は単位(µm)の設定が必要。
１０２
計測するために指定されたアルゴリズムが無効。
１０３
イメージチェック中のレーザ光の輝度が低すぎる。
１０４
イメージチェック領域不正。
イメージチェック領域の境界が正しく設定されていない。
１０５ イメージチェック失敗
イメージチェックパラメータ比較に失敗した。
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コード
コードコード
コード 説明
説明説明
説明
１０６ 現在指定されたエラーレベルでは定義されていないエラーが発生しました。
エラーレベルを変える必要があります。
エラーチェックを実行したときの結果を以下に示します。
最小輝度
：
センサの輝度が一番低いとその値を表示します。
最大輝度
：
センサの輝度が一番高いとその値を表示します。
エッジチェック
：
エッジチェックを実行した時の一番高いエッジチェック値とその場所を表
示します。
MNLA
センサの場合は
0.0
６が汚れの目安となりますので、それ以上の値が
表示された場合センサを拭いてください。
エッジチェック値とは、レーザによるセンタリング誤差を表す代用特性値です。
エッジチェック値が大きくなるほどセンタリング誤差は増加し、通常ウィンドウ面の汚れ
が原因となります。
注意
注意注意
注意
: