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Test Research Inc. 122 TR 7007 User Guide -- So ftware H0 ：底層區域的平均灰階値。 [ ] 內容代表底層區域中最小與最大的灰階 値。 H1 ：錫膏區域的平均灰階値。 [ ] 內容代表錫膏區域中最小與最大的灰階 値。 H1 - H0 ：錫膏對於底層的相對平均高度値。 表示 H0/H1/H1- H0 示意圖 圖 244 類型二 統計 CAD 框內所有數據：代表檢測框內的高度分佈情…
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B. 尚可：濾除百分比 25%~50%判定為尚可。
C. 不良：濾除百分比大於 50%判定為不良。
3D 資料設定介面示意圖 圖242
3. 直方圖與資訊：按照數據統計的範圍分成三種類型。
類型一直方圖 圖243
類型一 統計搜尋範圍內所有數據：代表全體累積高度値的分佈情形，因此
可藉由此來定義錫膏與底層區域的高度門檻値。
直方圖中 X 軸代表灰階值，Y 軸為該灰階的像素總數。圖形中呈現愈尖銳
的兩個獨立的雙峰則代表錫型較佳。
直方圖資訊欄位說明：
檢測框：代表搜尋範圍內的總像素數。如圖 30 所示，總像素數為 8212
個像素。
範圍(灰階)：代表最大灰階値。[ ]內容代表最小與最大灰階値。
範圍(μm)：顯示最高高度値。[ ]內容代表最低與最高高度値。
Th：利用自動模式定義的高度門檻値。以此門檻値為基準，若大於此門
檻値定義為錫膏區域，小於此値則定義為底層區域。
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H0：底層區域的平均灰階値。[ ]內容代表底層區域中最小與最大的灰階
値。
H1：錫膏區域的平均灰階値。[ ]內容代表錫膏區域中最小與最大的灰階
値。
H1-H0：錫膏對於底層的相對平均高度値。
表示 H0/H1/H1-H0 示意圖 圖244
類型二 統計 CAD 框內所有數據：代表檢測框內的高度分佈情形，可用此類
型的直方圖來觀察錫膏的平整度。
類型二的直方圖
圖245
類型三 統計檢測框外搜尋範圍內的所有數據：代表檢測框 CAD 框外搜尋範
圍內的高度分佈情形，可用此類型的直方圖來觀察底板高度分佈的情形。
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類型三的直方圖 圖246
2D 門檻值：X 軸為灰階值，Y 軸為該灰階值的像素累積數量。分別呈現三種情況的
直方圖：左燈+右燈 / 左燈 / 右燈。
5.2.7 尋找定位點
可使用此功能先確認定位點是否判定成功。需成功執行定位點搜尋後軟體才允許新增
其他定位點。
搜尋定位點成功，出現提醒視窗並在檢測定位點畫面中顯示判定的分數，
若成功搜尋的定位點小於兩點時，則判定成搜尋失敗。
5.2.8 條碼
分為以下三種設定
條碼功能選單項目示意圖 圖247
硬體條碼設定：此功能設定需搭配硬體條碼機才可使用。