3D AOI软件编程手册_20201204 - 第56页
第七章 CH IP 类元件通用 资料库的编写 V 7.0.4584.0-2 www .jutze. com.cn 56 / 136 7.9 错件 7.9.1 点击 新建一个检测窗口 (同 7.3.1 中操 作),并设定 NG 种类 、照明光源和 检测算法; 7.9.2 调整检 测窗口大小 检测窗口应 位于元件本体 (非电极部分) 之上,大小则应比 元件本体(非 电极部分)稍 小为佳; 7.9.3 调整亮 度和颜色的参数, 并设定上下限 …

第七章 CHIP 类元件通用资料库的编写 V 7.0.4584.0-2
www.jutze.com.cn 55
/
136
7.7.2 将检测窗口放置于元件本体之上,使其测算得出元件表面平均高度,并在判定参数中设
定高度上下限值;
7.7.3 设定调用向量。
7.8 立碑
7.8.1 点击新建一个检测窗口(同 7.3.1 中操作),并设定 NG 种类、照明光源和检测算法;
7.8.2 调整检测窗口大小,并设定尺寸参数
检测窗口大小调整为元件的大小,“尺寸参数”中“x/y 偏移”“X/Y 邻域”的参数调整以两个
绿色子窗口接近检测窗口的两端为佳;
7.8.3 设定调用向量。

第七章 CHIP 类元件通用资料库的编写 V 7.0.4584.0-2
www.jutze.com.cn 56
/
136
7.9 错件
7.9.1 点击新建一个检测窗口(同 7.3.1 中操作),并设定 NG 种类、照明光源和检测算法;
7.9.2 调整检测窗口大小
检测窗口应位于元件本体(非电极部分)之上,大小则应比元件本体(非电极部分)稍小为佳;
7.9.3 调整亮度和颜色的参数,并设定上下限阈值
亮度和颜色参数的设定以能区别本体和周边环境为佳;
7.9.4 设定调用向量。
7.10 使用 OCVBIN 算法检测错件
注意:若元件有碑文,则使用此算法以代替
7.9
的算法进行检测。
7.10.1 点击新建一个检测窗口(同 7.3.1 中操作),并设定 NG 种类、照明光源和检测算法;

第七章 CHIP 类元件通用资料库的编写 V 7.0.4584.0-2
www.jutze.com.cn 57
/
136
7.10.2 调整检测窗口大小,并设定亮度和颜色的参数
检测窗口大小以刚好能框住整个碑文为佳,亮度和颜色的参数设定以能清楚标示出元件碑文为佳;
7.10.3 设定横向分隔/纵向分隔(以文字方向为准)的数量,并点击取窗口,获取模板图像;
注意:
CHIP
元件一般不需要检查极性,所以“反向允许”设定为
YES
。
7.10.4 改变检测窗口大小,设定搜索范围,设定调用向量。
7.11 虚焊
7.11.1 点击新建一个检测窗口(同 7.3.1 中操作),并设定 NG 种类、照明光源和检测算法;