3D AOI软件编程手册_20201204 - 第63页
第八章 IC 类元件通用资料库 的编写 V 7.0.4584.0-2 www .jutze. com.cn 63 / 136 8.3 本体 不良 8.3.1 点击快 捷菜单栏上新建 一个检测窗口 ，使左侧检 测窗口信息栏 中增加一行检 测项； 8.3.2 设定 NG 种类、照 明光源和检 测算法；
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8.2 进入元件编辑界面
8.2.1 调整元件本体框至元件焊盘大小，之后双击此框，进入元件编辑界面；
8.2.2 在元件编辑界面中，选择对应的元件类型。
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8.3 本体不良
8.3.1 点击快捷菜单栏上新建一个检测窗口，使左侧检测窗口信息栏中增加一行检测项；
8.3.2 设定 NG 种类、照明光源和检测算法；
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8.3.3 调整检测窗口大小和位置，并设置参数
本体不良检测窗口的大小应调整为一个近似正方形，并放置于元件四周基板上一角。
参数设置：在输出结果中，选择 Auto 或者 User 默认参数。
注意：检测窗口放置的区域应尽量避免出现基板边缘、孔洞、元件等影响计算基准面的因素。
8.3.4 鼠标右键检测窗口项，使用复制 - X 轴对称复制/Y 轴对称复制，将当前检测窗口复制到
元件四周基板上另外三个角。