JT-AOI设备新算法使用说明书 - 第24页

23 选择导入关系 :按照需求,选择 性的导入元件 库中的信息。 数据偏移:对 CAD 坐标 增加偏移补偿,达 到 PCB 板与 CA D 坐标一一对应 的目的。 校对 MAR K :校对 MARK 点。 删除 MAR K :删除 MARK 点。 删除拼板数据 :用于删除已编辑 的拼板数据。 生成机器路径 :生成生产时机器 照像检查的顺 序。 3.3.4 : “视图” 菜单 工具栏:用于 设置工具栏是否可 见。 状态栏:用于 设置状态栏…

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删除:用于删除激活的对象。
复制:用于将激活的对象复制到内存中。
粘贴:用于将已复制的对象粘贴到欲定义位置
查找:用于查找某个元件,在表格中用深色显示出来。
旋转:用于旋转测试框。
旋转图像:用于旋转图像。
旋转 CAD 数据:用于校正导入的 CAD 坐标 PCB 元件分布。
设置坐标偏移:用于定位到每个 CAD 坐标到相应的 PCB 元件
校正 CAD 坐标:利 3 点定一面的原理来校正 CAD 坐标与 PCB 元件。
按料号扩展:用于按照料号扩展该激活定义。
元件取样:用于对激活的元件框进行取样。
显示焊盘:用于显示隐藏的焊盘框。
显示虚焊检测框:用于显示隐藏的虚焊检测框
删除全部样本:用于删除全部已定义的元件样本。
删除全部丝印:用于删除全部已定义的元件丝印。
3.3.3“数据”菜单
新增坐标点:用于新增坐标点。
注册焊盘屏蔽色:用于设置 PCB 焊盘屏蔽色。
导出元件库:将已完成的定义框体导入元件库中,方便以后或其他机器的程序制作
导入元件库:将元件库中的已定义框体导入程序中,减少程序制作的时间。
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选择导入关系:按照需求,选择性的导入元件库中的信息。
数据偏移:对 CAD 坐标增加偏移补偿,达 PCB 板与 CAD 坐标一一对应的目的。
校对 MARK:校对 MARK 点。
删除 MARK:删除 MARK 点。
删除拼板数据:用于删除已编辑的拼板数据。
生成机器路径:生成生产时机器照像检查的顺序。
3.3.4“视图”菜单
工具栏:用于设置工具栏是否可见。
状态栏:用于设置状态栏是否可见。
标准模板:用于设置标准模板是否可见。
显示缩略图:用于显示缩略图。
显示机器路径:执行此功能可以将当前的状态切换为显示机器照相运行路径状态或程序编辑调整状态。
全部镜头:执行此功能可以显示机器照相运行全部路径。
前一个镜头:执行此功能可以显示机器照相运行路径的上一个镜头图象。
后一个镜头:执行此功能可以显示机器照相运行路径的下一个镜头图象。
显示元件名称;显示所有已定义元件名称。
3.3.5“设置”菜单
参数配置:用于参数设置。
语言:用于切换软件显示语言。
3.3.6“选项”菜单
保存测试项目:用于保存测试项目。
3.3.7“帮助”菜单
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关于 AOIEDIT:显示关于 AOIEDIT 的信息。
3.4
类型定义栏介绍
1 定位框类型:用于增加定位框。
2 CHIP 焊脚类型:用来在制作测试程序中,给某个测试对象添加电阻 /电容的焊接测试框。
3 PLCC 焊脚类型:用来在制作测试程序中,给某个测试对象添 PLCC 的焊接脚框试框。
4 三极管焊脚类型:用来在制作测试程序中,给某个测试对象添加三极管的焊接脚测试框。
5 SOP 焊脚类型:用来在制作测试程序中,给某个测试对象添加 SOP 的焊接脚测试框。
6 排阻焊脚类型:用来在制作测试程序中,给某个测试对象添加排阻的焊接脚测试框
7 本体类型:用来在制作测试程序中,给某个测试对象添加元件本体测试框。
8 焊盘定义类型:用来在制作测试程序中,给某个测试对象添加焊盘定义框。
9 桥接类型:用来在制作测试程序中,给某个测试对象添加元件焊脚之间的桥接测试框。
10 性类型:用来在制作测试程序中,给某个测试对象添加极性测试框。
11 插件焊脚类型:用来在制作测试程序中,给某个插件焊脚添加测试框。
12 空焊盘检测:用来在制作测试程序中,给某个空焊盘添加测试框。
13 PCB 异样检测:用来在制作测试程序中,给某处 PCB 添加异样测试框。
14 金手指类型:用来在制作测试程序中,给某处 PCB 添加异样测试框。
15 PCB 溢胶类型:用来在制作测试程序中,给某处 PCB 添加异样测试框。
16 极性 2 类型:用来在制作测试程序中,给某处 PCB 添加异样测试框。
17 自定义检测:用来在制作测试程序中,给某处 PCB 添加异样测试框。
18 条码:用来在制作测试程序中,给某处 PCB 添加异样测试框。
19 屏蔽区域:用来在制作测试程序中,给某处 PCB 添加异样测试框。