JT-AOI设备新算法使用说明书 - 第39页
38 本体定义框： 用来测试本体是否 错料破损等情 况。 （此处同 CHIP 类型） 极性检测框： 用来测试二极管极 性情况 , 而拉设的 原则就是选取特征 部分进行抽色 处理。 三级管类型的编辑 三极管类型框 中有元件定义框、 焊接框、样本 定义框、本体定义 框。 元件定义框： 定义该元件属性。 （此处同 CHIP 类型）
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焊盘定义框：此框正常情况下也是隐藏的，“CTRL+Q”键可将这个框显示出来。用来定位 chip 料焊盘，配
合焊接头定义框使用可起到测试 chip 料是否贴偏的问题。
二极管类型的编辑
二极管类型框中有元件定义框、焊接框、样本定义框、本体定义框、极性检测框。
元件定义框：定义该元件属性。（此处同 CHIP 类型）
焊接框：用来测试焊接处锡含量是否达标。跟 CHIP 类型焊接框不同的是，二/三极管焊接框内部多了一个
白色的屏蔽框，该屏蔽而屏蔽框没有颜色算法。而其大小框住的范围可在其附属框中进行屏蔽颜色的处理。
样本定义框：用来取样定位二极管。此框不测试颜色，其大小框住的部分就是样本，而样本的好坏就直接
影响后续测试时的物料定位的情况。
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本体定义框：用来测试本体是否错料破损等情况。（此处同 CHIP 类型）
极性检测框：用来测试二极管极性情况,而拉设的原则就是选取特征部分进行抽色处理。
三级管类型的编辑
三极管类型框中有元件定义框、焊接框、样本定义框、本体定义框。
元件定义框：定义该元件属性。（此处同 CHIP 类型）
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焊接框：用来测试焊接处锡含量是否达标。（此处同二极管类型）
样本定义框：用来取样定位三极管。（此处同二极管类型）
本体定义框：用来测试本体是否错料破损等情况。（此处同 CHIP 类型）
电源三级管类型的编辑
电源三极管类型框中有元件定义框、焊接框、样本定义框、本体定义框。
元件定义框：定义该元件属性。（此处同 CHIP 类型）
焊接框：用来测试焊接处锡含量是否达标（此处同二极管类型）
样本定义框：用来取样定位电源三极管。（此处同二极管类型）
本体定义框：用来测试本体是否错料破损等情况。（此处同 CHIP 类型）
排阻类型的编辑
排阻类型框中有元件定义框、焊接框、样本定义框、本体定义框、桥接框。
元件定义框：定义该元件属性。（此处同 CHIP 类型）
焊接框：用来测试焊接处锡含量是否达标，检测是否存在假焊问题。（此处同二极管类型）
样本定义框:用来取样定位。（此处同二极管类型）
本体定义框：用来测试本体是否错料破损等情况。（此处同 CHIP 类型）
桥接框：用来检测是否存在连锡情况。此框使用灰度的拉设就可满足大多数的 PCB 测试要求，而对于某些
特殊的成色情况也可把这个框当成自定义框来进行抽色处理。