JT-AOI设备使用说明书-新 - 第43页

深圳市劲拓自动化设备股份有限公司 （培训资料） - 42 - 4.4.3 三级管类型的编辑 三极管类型检测中需要用到以下检测框：元件定义框、焊接框、样本定义框、本体定义框。 元件定义框：定义该元件属性。 （此处与 CHIP 类型调试方法相同） 焊接框：用来测试焊接处锡含量是否达标。 样本定义框：用来取样定位三极管。 （此处与二极管类型调试方法相同） 本体定义框：用来测试本体是否错料破损等情况。 （此处与 CHIP 类型调试方法相同） 4…

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4.4.2 二极管类型的编辑
二极管类型检测中需要用到以下检测框：元件定义框、焊接框、样本定义框、本体定义框、极性检测
框。
元件定义框：定义该元件属性。（此处与 CHIP 类型调试方法相同）
焊接框：用来测试焊接处锡含量是否达标。跟 CHIP 类型焊接框不同的是，二/三极管焊接框内部多
了一个白色的屏蔽框，该屏蔽而屏蔽框没有颜色算法。而其大小框住的范围可在其附属框中进行屏蔽颜
色的处理。
样本定义框：用来取样定位二极管。此框不测试颜色，其大小框住的部分就是样本，而样本的好坏
就直接影响后续测试时的物料定位的情况。
本体定义框：用来测试本体是否错料破损等情况。（此处与 CHIP 类型调试方法相同）
极性检测框：用来测试二极管极性情况,而拉设的原则就是选取特征部分进行抽色处理。
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4.4.3 三级管类型的编辑
三极管类型检测中需要用到以下检测框：元件定义框、焊接框、样本定义框、本体定义框。
元件定义框：定义该元件属性。（此处与 CHIP 类型调试方法相同）
焊接框：用来测试焊接处锡含量是否达标。
样本定义框：用来取样定位三极管。（此处与二极管类型调试方法相同）
本体定义框：用来测试本体是否错料破损等情况。（此处与 CHIP 类型调试方法相同）
4.4.4 电源三级管类型的编辑
电源三极管类型检测中需要用到以下检测框：元件定义框、焊接框、样本定义框、本体定义框。
元件定义框：定义该元件属性。（此处与 CHIP 类型调试方法相同）
焊接框：用来测试焊接处锡含量是否达标（此处与二极管类型调试方法相同）
样本定义框：用来取样定位电源三极管。（此处与二极管类型调试方法相同）
本体定义框：用来测试本体是否错料破损等情况。（此处与 CHIP 类型调试方法相同）
4.4.5 排阻类型的编辑
排阻类型检测中需要用到以下检测框：元件定义框、焊接框、样本定义框、本体定义框、桥接框。
元件定义框：定义该元件属性。（此处与 CHIP 类型调试方法相同）
焊接框：用来测试焊接处锡含量是否达标，检测是否存在假焊问题。（此处与二极管类型调试方法相同）
样本定义框:用来取样定位。（此处与二极管类型调试方法相同）
本体定义框：用来测试本体是否错料破损等情况。（此处与 CHIP 类型调试方法相同）
桥接框：用来检测是否存在连锡情况。此框使用灰度的拉设就可满足大多数的 PCB 测试要求，而对于
某些特殊的成色情况也可把这个框当成自定义框来进行抽色处理。
4.4.6 SOP 类型的编辑
SOP 类型检测中需要用到以下检测框：元件定义框、样本定义框、极性测试框、本体定义框、IC 焊脚
框、SOP 焊接框、桥接框。
元件定义框：定义该元件属性。（此处与 CHIP 类型调试方法相同）
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样本定义框：此中有两个样本定位框，大的定义框定位整个 sop 元件，小的定义框定位单边 sop 焊脚。
极性测试框：用来测试 SOP 极性情况，检测是否贴反。（此处与二极管类型调试方法相同）
本体定义框：用来测试本体是否错料破损等情况。（此处与 CHIP 类型调试方法相同）
桥接框：用来检测是否存在连锡情况。（此处同排阻类型）
IC 焊脚框：用于定位单边焊脚的收索范围，颜色值默认软件预设即可。
Sop 焊接框：其内部有两个可供自选颜色的自定义检测框，而其本身仅用来包含它们用于扩展和报错，
没有算法。