IPC CH-65B CHINESE.pdf - 第114页

板到 处移 动, 导致过 多 的 带 出 液 。在 许多 情况 中,电路板 或者 一 篮 子 紧 挨 着 放置 的电路板都会 导致 液体 的 共 享 , 甚 至 会 导致 从 洗 涤阶段 到 冲 洗 阶段 的 液体 沟 槽 。 8.10.5.3 批清洗机中的 泡沫 批 清洗 机 中洗 涤 循 环 中的 泡沫 ,其 产生原因是 和在线清洗 机 中 泡沫 产 生 的 原因是 一 样 的, 就 如 上述所述。 潜 在的 症 状 和 纠正措施 …

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措施确保在制商推荐的范围之内含有消泡剂去消由加入的污产生的气
有限的能力,消泡常以低浓加入到清洗中。化学清洗
成份乎就用。
选择低起泡的清洗和焊接化学。清洗的技术文含有表明特殊化学起泡性能的
数据表。搅拌机起泡研究使用实验室切搅拌机
。实验室测试需要在
下运
确保的污不在泡沫临界上。污是导致泡沫产生件。问题
含在助焊剂中的成分导致的。其高泡材料比如特定阻焊膜导致这种问题为一台在线PCB
清洗机是一个相对持程,要达到一个状态的污上要达到平
,不会产生泡沫。然而,
定状态的污起泡临界上,物水
要通过过或者清洗槽进行定期地减少
•当时,遵照清洗尺寸到洗容积的限制。一个大的
产生过大的力和量,依次,会导致过于进入
加重泡沫产物
加消泡到洗涤溶剂
中。这种起泡问题救办常只一个时的措施,并不能高泡
产物原因。然而,在一中,定期加入消泡能成起泡
8.10.5.2 在线清洗机冲洗阶段起泡 线清洗机冲阶段起泡涤阶段泡沫样严
的。的。影泡沫出现的程参,有一个常重要的不
:在情况下,阶段
主要的原因是涤阶段化学低浓污染进入
阶段
阶段百万度水平的清洗剂/导致极泡沫产物当这时,
,在洗时导致交污染,不能有消泡沫产物。在一台适的在线清
污染不会发在一个度导致冲阶段起泡措施确保在线清洗的设
置如8.10.5.2.1章节所述的,的。
8.10.5.2.1 减少污染的正措
•调喷淋确保喷淋不会。通面的喷淋度使之朝
涤阶段的中心,中喷淋向进喷淋确保最靠喷淋
离冲
在化学离段整空
们可以同
或者使之朝向
阶段。化学喷淋或者
度使之朝向涤阶段确保喷淋
朝向阶段8-9
•调确保空气的净流量和薄雾朝向
。在线清洗多种排气装。大部
分系统都装有
。一系统
导致涤阶段薄雾涤阶段移
动到阶段喷淋薄雾拉导致冲的污染。问题经常被忽视
阶段问题泡沫的主要原因。(8-108-118-128-13
措施减少涤阶段的洗涤液带离)并进入阶段
带离液的发生是涤液
润湿的表面通清洗电路板、清洗传送液体能在PCB的表面
元器比如连接器密编织的清洗或者清洗部替代的材料用于防电路
8-9 整空⽓⼑远离冲洗
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板到处移动,导致过。在许多情况中,电路板或者放置的电路板都会导致
液体导致涤阶段阶段液体
8.10.5.3 批清洗机中的泡沫 清洗中洗中的泡沫,其产生原因是和在线清洗泡沫
原因是的,上述所述。在的纠正措施的。
清洗 阶段泡沫产生原因类在线清洗机冲
阶段泡沫产生原因。然
而,不气通起泡的一个原因数批清洗有一个或者
气。
清洗多次可能导致泡沫的的问题清洗设计成序冲
到达到一个设的大电阻率设值范围300-
700KΩ泡沫
导致一个到下一个平的移行泡沫工室的,并能在
收集到(8-148-15。在环阶段泡沫良好
8.11 洁度测试 量和制电路板清洁改善量、组件性能及长时性。子和非离
污染会影响器件上在的操作性和可性。在湿环境下,
子污染导致比如由
导致导体间问题腐蚀物腐蚀导体自问题或者绝缘去问题非离子污染
是导电的,是导体周围残留物绝缘性会导致要的
8-10 整前的冲洗阶段泡沫 8-11 的冲洗阶段泡沫
8-12 8-13
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8.11.1 ROSE测试 2060年代,国于离子污染成的电路组装板
。国部和工业,为量化制造过程中在电路板上子污染平而发
方法方法过测定溶液的电阻率多指ROSE测试检测测定可电的表
面污染ROSE制工能用于检查印制线路板和印制线路组件,确定它否符合用
性能
这里出现的方法已成为IPC J-STD-001的一部这种方法记录IPC-TM-650中。
ROSE测试是非的,测试为制技术的定控制,监控产品组装和清洗程,提供快
便方法ROSE方法无法溶解许多现在的助焊剂残留物无法检测夹裹
件下面狭窄空间子污染。在许多沿的电路组装中,这些ROSE测试
证和制的正确性提出了。为这些限性,改善、污染
检测和动清洁度测试,为满足电子组件制造过证和制的要。
8.11.2 ROSE测试⽅法的局 更高密度小的元器件及更低元器托高高
路板清洁定义现在或者证的法是和可视残留物阻率
相关的。着元器尺寸小及元器托高高度间减少能力、能力及使ROSE
方法测定离子污的能力大的ROSE测试方法是实可制工,用于测量组
件上平子清洁这种标准测试不能用于评估单个元器件。
ROSE测试方法是引导电子组件产品检验通用的标准。通用的标准允许使多种
助焊剂这些助焊剂
溶于标准的75%/25% IPA/H
2
O试剂。对通用标准的
限,新的测试IPA/H
2
O改善性能。
使ROSE测试方法夹裹在有机助焊剂基体残留物量对电阻率的影
此,果离残留物IPA/H
2
O中,这些残留物不会
ROSE测试检测到,导致对电路板清洁不准测定。通用方法限,包电子组件小的
尺寸和新的焊接材料/方法公司生产性的产品大的隐患
的清洁和测试系统
8.11.3 ROSE测试设备 清洁度测试备使用的溶剂试剂子及非离助焊剂残留
试剂出含有在
电路组件的测试室。在的溶剂试剂
导率这些导率断累积。在下一测试前,这些混
溶剂试剂物质之后从测试试剂的电导率
减少到所有物质已经被
清洁度测试一个清洗测试输入溶剂试剂进入测试中,用应试剂的电阻率
装在测试腔内出的试剂于去自测试腔内溶剂。清洁度测试可能包
8-14 洗涤阶段中的泡沫 8-15 顺序冲洗,洗涤/冲洗泡沫
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