IPC CH-65B CHINESE.pdf - 第45页

5.1.1 清洗⼯艺的 效果 影 响 清洗工 艺效果 的 需 求和材料 因素 包 括 电路 密度 、 元器 件 托高高 度 、 助 焊剂残留 成 分 、 回流温 度 和清洗前 的 受 热 次 数 。可能 受 清洗工 艺 严 重 影 响 的组件材料包 括 板覆 铜 层 ,表面 镀层 、 塑 胶 件、 元器 件、标 签 、 器 件标 识 、 金属 合 金 、涂覆 层 、 非密 封 元器 件、 粘 合 剂 。 制 备元器 件和组装 物 料(工…

100%1 / 215
3. Gillespie, B., & DeBenedetto, M. (2007, Feb). Conformal coating and board cleanliness. Circuit Assembly,
Retrieved from www.circuitassembly.com
4. Printed Circuit Board. Retrieved from http://en.wikipedia.org/wiki/Printed_Circuit_Boards on
February 13, 2009.
5. Goering, R. (2006, August 7). Board Complexity Dogs Designers. Electronic Engineering Times,
Retrieved from www.eetimes.com
6. Hugh, S. (2008, Oct). Challenges in Cleaning Pb-Free Medical Electronics. IPC/SMTA High Perfor-
mance Cleaning Symposium.
7. Lee, .C. (2002). Reflow Soldering Processes and Troubleshooting SMT, BGA, CSP and Flip Chip Tech-
nologies. ewnes, Woburn, MA.
8. Takemoto, T., Latanision, R.M., Eagar, T.W., &Matsunawa, A. (1997). Electrochemical migration tests of
solder alloys in pure water. Corrosion Science. 38(8), 1415-1430.
9. Lee, .C. (2008). Future lead-free solder alloys and fluxes: Meeting the challenges of miniaturization.
IPC Printed Circuits Expo. Las Vegas, V.
10. Dishart, K.T. (2008, Oct). Using Hansen Solubility Parameters to Match the Cleaning Agent to the
Pb-Free Residue. IPC/SMTA High Performance Cleaning Symposium.
11. Reflow Soldering. Retrieved from http://en.wikipedia.org/wiki/Reflow_Soldering on February 15,
2009.
12. Lee, .C. (
2008, Oct). Lead Free Soldering and the Influence on Cleaning. IPC/SMTA High Performance
Cleaning Symposium.
13. Stach, S., & Bixenman, M. (2004, Sep). Optimizing Cleaning Energy in Batch and Inline Spray Systems.
SMTAI Tech Conference. Donald Stephens Convention Center, Rosemont, IL
14. Electronics and Computer Industry (SIC 36). Retrieved from http://www.epa.gov/compliance/
resources/publications/assistance/sectors/notebooks/elecmpsnpt1.pdf on February 15, 2009.
15. South Coast Air Quality Management District. Retrieved from http://en.wikipedia.org/wiki/SCAQMD
on February 15,2009.
16. REACH. Retrieved from http://en.wikipedia.org/wiki/Reach on February 15, 2009.
5 材料兼容性
负责清洗制程的工程必须意识到可能发的材料兼容性问题。本章节包含的信息在为制程工程
认识清洗电子部件时的材料兼风险考虑因素有电路板的层压板、表面处理元器
件、金属粘接
、部件标料、组装时材料的组合和配置以夹裹污染
。其它因素必须考虑到,清洗材料的化学性、清洗能量和清洗制程的
,包工周。所有这些因素可能发生交用,对广的电路板、元器
表面处理焊接材料有挑战性。出与材料兼容性风险相关的组可能因素
组合的数据度非大。
5.1 材料兼容性注 设计清洗工时的关性的材料兼容性注意事项是元器件、组装材料、
清洗
、清洗工用的能量,计的工和设设计。可能影清洗工艺效果
的清洗因素清洗、洗液体助焊剂的量、清洗设喷淋压力、量、
速度和工这些因素可能会影材料的兼容性。中积的污染可能来自于
兼容的材料,可能要清洗使用时间考虑的相用。
IPC-CH-65B-C 20117
30
Copyright Association Connecting Electronics Industries
Provided by IHS under license with IPC
Not for Resale, 11/27/2015 19:13:55 MST
No reproduction or networking permitted without license from IHS
--`,`,,,,`,`,,,`,,,`,`,`,`,,,```-`-`,,`,,`,`,,`---
5.1.1 清洗⼯艺的效果 清洗工艺效果求和材料因素电路密度元器托高高
焊剂残留回流温和清洗前。可能清洗工的组件材料包板覆
,表面镀层件、元器件、标件标金属、涂覆非密元器件、
备元器件和组装料(工使用的化学清洗和表面处理)可能组装清洗工
。可能影
清洗工艺效果的工使用的化学SMTSMT焊接助焊剂
锡条焊助焊剂、用于返工的锡丝助焊剂或者任何其必须在清洗工中清物质
5.2 性注确保印制电路板组件的可性,要求了电子元器件和组件的材料
性能及特点助焊剂板、清洗材料、敷形涂覆材料和其材料
时,鉴别清洗工外观元器
在的面影响是的工程设计的
在不情况料的实性能可或者的性能不。不料性能有,并可
能影响物料的兼容性。测试响物料实性能的因素清洗、清洗时、清洗、清洗
量、能量来了的相用。
5.3 物料兼容性测试 在工设计阶段兼容测试确保印制线路板组件料与清洗工兼容
要的。所有的化学可能对板、元器件及设
面影
兼容性测试个时测试是取决备或者员工的清洗周。长时
间测试的时间应由封者或者造者,长时测试仿组件传送带或
清洗中出来程都中的清洗前暴露。长期测试确定清洗对清洗设
的影这些测试以从5~10
8小时。为程,多次暴露
使用标准和制。现实评估新工要,去助焊剂是最
免物的一个平。在面,果物料的兼容性取决于正评估的新的去助焊
使用用新工的性能和兼容性标准测试前的工艺是的。成
年的现有的化学和工中不能通的长期物料兼容性要求的情况并不少见使
方法和设兼容性标准有助于错误效果”
5.3.1 兼容性和功能 任何清洗或者都有可能料兼容性问题,可能会有
的表面的化,化可能或者性的。一个可的表面的定义取决组件的
使用要求。兼容性的定义样也取决际应用。
兼容性测试标准有
这些标准用,但必须进兼容性测试。要考虑许多
变因素,对原因了兼容性表了一个必须调整测
适合于正考虑用。
5.3.2 选择做兼容性测试的物料 考虑艺变使用标准测试暴露产品硬测试物
兼容性是非常重要的。在设计阶段研究兼容性有助于产品硬清洗然而印制电路
板组件时选择最佳的清洗、工、时能量。
5.3.2.1 组装物料 所有组装工中的料包焊剂残留和清洗兼容性测试。设计兼容性
测试要有力。为这些问题推荐暴露组成印制线路板组件的料。期意
件下的合理“应测试”。一子包一个合升高(有
范围)更高机械力、工长。
5.3.2.2
定装、⼯和⼯艺助物 2周到3个月的长期测试可能适用清洗系统
水管水处理、通置等
20117 IPC-CH-65B-C
31
Copyright Association Connecting Electronics Industries
Provided by IHS under license with IPC
Not for Resale, 11/27/2015 19:13:55 MST
No reproduction or networking permitted without license from IHS
--`,`,,,,`,`,,,`,,,`,`,`,`,,,```-`-`,,`,,`,`,,`---
确定兼容性考虑因素
•温
力。
金属于管和长暴露
O形环
必须考虑膨胀破裂化对成的不的装可能不能
并可能污染产品。设有通兼容性的设。在评估时,一
要明
确告知的工件。
5.3.2.3 兼容的证用的数是质增减尺寸暴露后长和复、尺寸化、
或者元器件表面化、周围的液体色改变或者。此,表面镀层、和/或者
为适的表面分析
这种产品用,或者在一个活体那也考虑表面变或者产品
的影,参
适用的ASTMAAMIISOISO-10993列)标准。表面状态能的
要性,元器或者排放残留物可能会产生问题这两是非常重要的。
5.3.2.4 测试设计 使用组件好地兼容测试而不是分测试料。可能来与
测试然而,考虑用的复杂性,清洗剂或者清洗
产品
单个料的影不能可测整个组件暴露的清洗剂或者中的实情况
确定兼容性,确定兼容性过静态件下暴露化学确定兼容性可能
信息影
5.3.2.4.1 控制 果助焊剂敷或者去助焊剂是产品/或者产品要求持不,而
前的工的,新工开发期间使前的工艺作为一个或者基
和明的。
5.3.3 测试⽅法:举例 标准测试方法可用于元器件和产品件。子并不用的或者
的,测试方法可能不适合所有的使用要求。制选择方法
5.3.3.1 举例:⾮⾦属物料和元器件的材料兼容性
范围: 基于硬度积,金属暴露化学2小时()和/或者168小时(长
效果
考: Pratt & Whitney 范:PWA 36604金属料的兼容性,B版本,06-08-98
术语:
密度变化:暴露之后密度暴露之前的密度
硬度变化:硬度B去硬度A
%去初除以100
⽅法概要: 暴露化学2小时(暴露)和168小时(长暴露记录程中的a密度
化,b化,c金属硬度化。
IPC-CH-65B-C 20117
32
Copyright Association Connecting Electronics Industries
Provided by IHS under license with IPC
Not for Resale, 11/27/2015 19:13:55 MST
No reproduction or networking permitted without license from IHS
--`,`,,,,`,`,,,`,,,`,`,`,`,,,```-`-`,,`,,`,`,,`---