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ASM AVS - BEDIENUNGSANLEITUNG
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5.3.2.3 »Current Results« Auswahl Ergebnisdarstellung ...................................................................................................................... 126
5.3.2.4 »Current Results« – Teilansicht »Scan« .................................................................................................................................... 127
5.3.2.5 »Current Results« – Teilansicht »Recipe« ................................................................................................................................. 128
5.3.2.6 »Current Results« - Teilansicht »Statistic« ............................................................................................................................... 128
5.3.2.7 »Current Results« – Teilansicht »Single Value« ........................................................................................................................ 130
5.3.2.8 »Current Results« - Teilansicht »X-Y-Plot«: .............................................................................................................................. 131
5.3.2.9 »Current Results« Ansicht Frequency-Plot: .............................................................................................................................. 132
5.3.2.10 »Current Results« – Teilansicht «Report«: ............................................................................................................................... 133
5.3.3 »Current Recipe« ..................................................................................................................................... 135
5.3.4 »Former Result« ...................................................................................................................................... 135
5.3.5 »Rezepte Erstellen / Ändern« ................................................................................................................. 136
5.3.5.1 Glasplatte Ändern / neu Beschreiben (Reference) ................................................................................................................... 137
5.3.5.2 Bauteile (Items) ........................................................................................................................................................................ 140
5.3.5.3 Bauteil (Item) Positionen .......................................................................................................................................................... 144
5.3.5.4 Speichern des Rezepts (Messplan) ........................................................................................................................................... 149
5.3.5.5 Export der Recipe Daten (Meßplandaten) ................................................................................................................................ 150
6 VERBINDUNG NOTEBOOK ASM AVS SIPLACE ........................................ 151
6.1 Einstellungen der Verschiedenen Netzwerkadapter .......................................................... 151
6.2 Verbindung zur Produktionslinie (mit SIPLACE Pro) ........................................................... 152
6.3 Ordner/Daten Struktur von SIPLACE Pro ............................................................................ 153
6.3.1 Leiterplatten ............................................................................................................................................ 153
6.3.2 Tische ....................................................................................................................................................... 153
6.3.2.1 Bedeutung des Tischnamens .................................................................................................................................................... 153
7 ANHANG ........................................................................................................ 154
7.1 Korrektur der Offsetwerte .................................................................................................. 154
7.1.1 Übersicht Korrektur der Offsetwerte (WIE) ........................................................................................... 154
7.1.2 Beschreibung der Offset- Korrektur (WO) ............................................................................................... 155
7.1.2.1 Plattform 1 mit SW ≤ 405.xx, bzw. 406.xx. ............................................................................................................................... 155
7.1.2.2 Plattform 1 mit SW 407.xx (sowie 101.xx und 408.xx bei CS, CF) ............................................................................................. 156
7.1.2.3 Plattform 2 mit SW 501.xx ........................................................................................................................................................ 157
7.1.2.4 Plattform 2 ab SW 502.xx und Platform 2+ bis 605.xx .............................................................................................................. 158
7.1.2.5 Plattform 3 ab SW 701.xx ......................................................................................................................................................... 159
7.1.2.6 Plattform 0 -> SPLACE S15, F3 ................................................................................................................................................ 161
7.2 Offset-Korrekturen an DEK Druckern ................................................................................. 163
7.2.1 WO korrigieren? ...................................................................................................................................... 163
7.2.2 WIE korrigieren? ...................................................................................................................................... 164
7.3 Einstellungen der Vision Parameter von Gehäuseformen (GF) .......................................... 165
7.3.1 SST12 und SST14 => RV12 Kopf an ICOS Maschinen (analoges Vision) .................................................. 165
7.3.2 SST13 und SST14 => RV6 Kopf an ICOS Maschinen (analoges Vision) .................................................... 167
7.3.3 SST22 und SST20 => TWIN Kopf an ICOS Maschinen (analoges Vision) ................................................. 168
7.3.4 SST7 und SST10 => IC-Kopf an ICOS Maschinen (analoges Vision) ......................................................... 170
7.4 Erläuterungen zu Statistik und Interpretation der Ergebnisse ........................................... 172
7.4.1 Statistik .................................................................................................................................................... 172
7.4.1.1 Statistische Meßgrößen ............................................................................................................................................................ 172
7.4.2 Erläuterungen zur Interpretation der Grafik Einzelwerte-Darstellung: ................................................... 177
7.5 Messungen am Kleber SIPLACE 80G ................................................................................... 180
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1 Einleitung
Mit dem Produkt ASM AVS kann vor Ort beim Kunden eine Maschinenfähigkeitsuntersuchung
(MFU) von SMD-Bestückungsautomaten durchgeführt werden.
Maschinenfähigkeitsuntersuchungen dokumentieren die Fähigkeit einer Fertigungseinrichtung
(Bestückmaschine), eine vorgegebene Bearbeitungsaufgabe (Bestücken an der Sollposition)
dauerhaft und sicher erfüllen zu können.
1.1 Beschreibung der Messmethode
Bei der angewandten Methode handelt es sich um eine sog. Relativmessung.
Die Position der bestückten Bauteile wird dabei relativ zu einer, auf der benutzten Glasplatte
aufgebrachten, Struktur (Punktraster mit kreisförmigen Marken) gemessen.
Bei Chip-Bauelementen, wie z.B. Cerampads, reicht eine Aufnahme mit der verwendeten Kame-
ra, um den Offset des Bauteils zu ermitteln.
Bei Glasbausteinen (QFP, oder BGA Struktur) wird die Position der Marken an den vier Ecken
des Bausteins, relativ zur Struktur auf der Platte, gemessen. Aus der Position der vier Eckpunkte
wird dann von der Software der Mittelpunkt des Bauteils errechnet.
1.2 Hintergrund
Die mit dem ASM AVS durchgeführte Dienstleistung beinhaltet eine Maschinenfähigkeitsunter-
suchung der Bestückmaschine des Kunden, sowie eine Korrektur eines eventuellen Bestückver-
satzes, so dass der Kunde am Ende der durchgeführten Arbeiten ein Zertifikat über die Genauig-
keit (Maschinenfähigkeit) seines Bestückautomaten erhält.
1.3 Historie OnSite MFU
1. Feinkalibrierung zur Messung der Genauigkeit an Maschinen mit analogen Visionsystem.
2. CmController (4 weltweit) von Fa. CeTaQ: Für OnSite MFU mit externem Gerät.
3. ACT zur Messung der Genauigkeit an Maschinen mit digitalem Visionsystem.
4. Siscan AC (11 weltweit) Eigenentwicklung Siplace Service unter Siemens AG:
Für OnSite MFU mit externem Gerät.
5. Nach Austritt aus Siemens AG und Verkauf der Siscan Technologie:
Umbenennung des Systems in ASM AVS.
6. ASM AVS 2.0: Neues Design, neue Software, Messung von Lotpastendruckern und Bestü-
cker von Fremdanbietern möglich.
Bei Chip-Bauteilen
(Cerampads)
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2 Details zu AVS Gerät und Zubehör
2.1 ASM AVS
Das Gerät ASM AVS besteht aus 2 Modulen:
• Teil 1: Rechner mit nach außen geführten Schnittstellen.
• Teil 2: Plattenaufnahme, Achssystem mit Kamera, Hintergrundbeleuchtung
ASM AVS Unterteil (03061515-02), Teil 1:
Im unteren Teil des Gerätes, befindet sich ein Siematic Box PC 827C.
Dieser PC übernimmt folgende Aufgaben:
• Applikation der ASM AVS Software.
• Steuerung der Achsen (Schrittmotore)
• Messung mit digitalem SIPLACE Vision
• Steuerung der Bestücklinie (SIPLACE Pro)
ASM AVS Oberteil (03061131-01)
Im oberen Teil befinden sich das Achssystem, sowie die Leuchteinheit für das Hintergrundlicht.
Am Achssystem, das mit Schrittmotoren betrieben wird, hängt eine Standard LP-Kamera
der SIPLACE X-Serie.
Über eine Schublade wird die Glasplatte mit den bestückten Bauteilen dem Messsystem zuge-
führt.
HINWEIS / NOTICE
Checkliste AVS
Details und Artikelnummern zu allen Teilen, die einem MFU Tool-Set beiliegen,
finden Sie im Dokument „1_AVS-V2_Checkiste_Ausgabe__MM-YYYY ”.pdf“
REMOTE
LAN
Netz-Anschluss:
Kaltgerätestecker mit
Sicherung und Schalter.
SIPLACE
LAN
USB 2.0
Verbindung
zum Oberteil
USB 2.0