德律-AOI-TR-7100程式撰写流程(炉後) - 第49页
建立完資料庫 ， 並將所有同一種類的元件都套用後 ， 接下來可增加錫點部份的檢測框 ，在 整個 Ty p e 編輯區內 ，點選 Add voidwin （如下圖所示） ， 49 點選後，出現下圖所示狀態 錫點檢測框與元件之距離（如右上圖所示） 錫點檢測框之寬度（如右上圖所示） 錫點檢測框之長度（如右上圖所示） 錫點檢測框之起始距離（如右上圖所示） 錫點檢測框之間的距離（如右上圖所示） 選擇錫點檢測框增加在元件的上或左 、 下 或右、兩側…
1.將多功能框調整至適
當大小，框住欲建立資
料庫之元件
2.點選此處告知系統欲
建立資料庫
元件名稱
元件種類
3.輸入此元件種類（Type
）名稱
6.在此建議使用者，元件
的影像最好上下左右各
元件角度
留 1~2Pixel，因料件不
盡相同（有時大有時小
），預留寬度可減少錫點
的誤判
5.將所輸入的資料及多
功能框內的影像建入
資料庫
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4.點選此元件的角度
7.若電阻文字面不檢測
8.根據所建立的影像
9.根據所建立的影像，全部套用到所有同一
Type 元件（點選 Loc 後，有些元件因相似
度太低而造成無法自動定位並套用，點選
Replace 則可確保所有元件都會套用到所
建立的影像（但無自動定位效果）
，則可點選此處將元
件中心 Mask
，自動定位並套用
到所有同一 Type
元件
建立完資料庫，並將所有同一種類的元件都套用後，接下來可增加錫點部份的檢測框，在整個
Type 編輯區內，點選 Add voidwin（如下圖所示），
49
點選後，出現下圖所示狀態
錫點檢測框與元件之距離（如右上圖所示）
錫點檢測框之寬度（如右上圖所示）
錫點檢測框之長度（如右上圖所示）
錫點檢測框之起始距離（如右上圖所示）
錫點檢測框之間的距離（如右上圖所示）
選擇錫點檢測框增加在元件的上或左、下
或右、兩側（較常使用）
選擇錫點檢測框增加在元件的長邊
元件單邊所要增加錫點檢測框的數
量（Chip 類=1）
輸入欲增加錫點檢測框的資料後，點選 OK 即可套用到同一種類的所有元件（如下圖所示），
若要刪除，點選 Delvoidwin 即可。
己完成之錫點檢測框
綠色方框為 Mask 的標
記（表此電阻文字面不
測）
依上述之方法，即可完成所有 Chip 類元件的檢測框。
接下來介紹 IC 類在 Top Camera 下的編輯流程，根據之前在資料庫建立的檢測框，轉到主程
式後，Top Camera 下所見到的是 Missing、Lead、Lead_Void 檢測框以及 Lead_Align 定位框，
首先對於 Missing 框的處理，可直接由滑鼠指標拖曳至欲檢測的位置，若要改變檢測框大小，
先將多功能框調整至欲改變的大小並放在欲檢測的位置，在要改變大小的檢測框上，點擊滑鼠
右鍵兩下，出現要改變大小的訊息（如下圖所示），點選所需即可完成。
在 Missing 框上點
擊滑鼠右鍵兩下
只改變這一顆元件 Size
套用新的 size 到
同一種類上
套用新的 size 到其他相
同名稱的多聯板上
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