德律-AOI-TR-7100程式撰写流程(炉後) - 第51页
T rain （影像攫取 、 轉換） 確認此檢測框大小及位置後，點選 單顆元件編輯區內的 T rain ， 可將檢測框內的影像攫取下來 （註：所有未轉換 (T rain) 過的檢測框，並不會做檢測的動作） 。 關於 Lead 、 Lead_V oid 檢測框以及 Lead_Align 定位框， 在 Library 就己調整好檢測框的大小 以及腳與腳之間的間距 ， 在此只須將檢測框直接拖曳至欲檢測的位置 ， 點選單顆元件編輯區內 的 T …
己完成之錫點檢測框
綠色方框為 Mask 的標
記（表此電阻文字面不
測）
依上述之方法，即可完成所有 Chip 類元件的檢測框。
接下來介紹 IC 類在 Top Camera 下的編輯流程，根據之前在資料庫建立的檢測框，轉到主程
式後，Top Camera 下所見到的是 Missing、Lead、Lead_Void 檢測框以及 Lead_Align 定位框，
首先對於 Missing 框的處理，可直接由滑鼠指標拖曳至欲檢測的位置，若要改變檢測框大小，
先將多功能框調整至欲改變的大小並放在欲檢測的位置，在要改變大小的檢測框上，點擊滑鼠
右鍵兩下，出現要改變大小的訊息（如下圖所示），點選所需即可完成。
在 Missing 框上點
擊滑鼠右鍵兩下
只改變這一顆元件 Size
套用新的 size 到
同一種類上
套用新的 size 到其他相
同名稱的多聯板上
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Train（影像攫取、轉換）
確認此檢測框大小及位置後，點選單顆元件編輯區內的 Train，可將檢測框內的影像攫取下來
（註：所有未轉換(Train)過的檢測框，並不會做檢測的動作）。
關於 Lead、Lead_Void 檢測框以及 Lead_Align 定位框，在 Library 就己調整好檢測框的大小
以及腳與腳之間的間距，在此只須將檢測框直接拖曳至欲檢測的位置，點選單顆元件編輯區內
的 Train，此時 Lead_Align 定位框會同時記住框內 X,Y 方向的灰階變化（如下圖所示）
X 軸方向灰階變化
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將滑鼠指標點到 Lead_Align 定位框，再點選單顆元件編輯區內的 Auto，系統會告知是否做自
動定位，點選確定後，此時此顆 IC 同一種類所有的 Lead、Lead_Void 檢測框，會依據這個
Lead_Align 定位框內 X,Y 方向的灰階變化，完成自動定位（Relocate）和轉換（Train）的動
作，並顯示搜尋到（Search）幾個而完成了（get）幾個 Lead_Align 定位框，編輯流程如下圖
所示：
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註１：若滑鼠指標沒有點到 Lead_Align 定位框，系統不會知道你要做自動定位的動作，此時
點選 Auto 就不會有任何反應。
註２：Align 是記錄 X,Y 方向灰階變化的自動定位系統，當你轉換（Train）它時，所教導 X
（或 Y）方向的灰階是 10 隻腳，則它只能搜尋到 1~9 隻腳的 Align，因它無法預測未知
的灰階變化（如 11 隻腳以上），故當我們在做 Align 定位時，可選擇腳數較多的去做搜
尋和比對。
一般而言，在 Top Camera 下對 Chip 類的元件使用的光源和 IC 類不同（燈光值敘述如下），
但一張圖像（FOV）裡可能存在著 Chip 類元件以及 IC 類元件，卻又只能使用一種光源，以下
提供兩種方法來解決。
Top Front Rear Left Right
Chip 類元件 50~70 50~70 50~70 50~70 50~70
IC 類元件 100~150 0 0 0 0