赫立AOI操作手册 - 第52页

上海赫立电子科技有限公司在线型自动光学检测仪使用手册第 51 页共 64 页 c) 缺件检测方法之亮度最大值在 Side (RGB) 真彩色图像模式下：当二极管 D1 未缺件时，本体相对较暗，亮度最大值相对较小；当元件缺件时，元件本体下的白色高亮丝印便裸露出来，亮度最大值则相对较大。 d) 缺件检测方法之亮度投射最小跨度在 T op (RG B) Dar k 图像模…

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5-4. 常见缺陷检测方法及常用检测算法应用实例

5-4-1. 缺件

a) 缺件检测方法之颜色抽取 HSV

在 Side（RGB）真彩色图像模式下：电容 C1 未缺件时，当前检测窗口位置应为元件本体之褐色（基本

无任何绿色）；电容 C1 缺件时，则当前检测窗口位置应被裸露出的电路板基板绿色几乎全部占据。

因此，在当前检测窗口区域内，运用颜色抽取 HSV 方法计算颜色为绿色的像素个数占窗口内像素总数

的百分比应在 50%以内（通常情况下运算结果应几乎为 0）。如若缺件，运算结果将远大于 50%。

b) 缺件检测方法之亮度平均值

在 Top (RGB) Dark 图像模式下：当 IC 元件 U4 未缺件时，本体相对较暗，亮度平均值也相对较小；当

元件缺件时，元件本体下的基板便裸露出来，而基板亮度相对较亮，亮度平均值相对较大。

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c) 缺件检测方法之亮度最大值

在 Side (RGB)真彩色图像模式下：当二极管 D1 未缺件时，本体相对较暗，亮度最大值相对较小；当元

件缺件时，元件本体下的白色高亮丝印便裸露出来，亮度最大值则相对较大。

d) 缺件检测方法之亮度投射最小跨度

在 Top (RGB) Dark 图像模式下：当电容 C14 未缺件时，基板是相对较亮，而元件本体左右两侧两道暗

边就会贯穿当前检测窗口，亮度投射最小跨度的原理是当有极亮或极暗的物体贯穿检测窗口长度方向

时，结果值将会较大，所以当元件没有缺件时，亮度投射最小跨度结果值将较大；而当元件缺件时，便

无两道暗边贯穿检测窗口，亮度投射最小跨度结果值将较小。

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5-4-2. 偏移

a) 偏移检测方法之亮度投射最小跨度 1

在 Side（RGB）真彩色图像模式下：把使用亮度投射最小跨度算法的检测窗口放在元件电极的旁边，当

元件没有上下方向偏移时，当前窗口没有任何的亮边贯穿，结果值相对较小；当元件上下方向偏移时，

电极的亮边就会贯穿当前检测窗口，亮度投射最小跨度的结果值则相对较大。

b) 偏移检测方法之亮度投射最小跨度 2

在 Top（RGB）同轴落射照明图像模式下：当元件没有左右方向偏移时，此时亮度投射最小跨度的结果

数值相对较小；而当元件左右方向偏移时，电极亮边就会横向贯穿当前检测窗口，而导致亮度投射最小

跨度的结果数值相对较大。