赫立AOI操作手册 - 第57页
上海赫立电 子科技有 限公司 在线型自动 光学检测 仪使用手 册 第 56 页 共 64 页 5-4-4. 立碑 a) 立碑检测方法 之 颜色抽取 HSV 在 Side （ RGB ） 真 彩色图像 模式下 ： 元件未垂直立 碑时， 当前 检测窗口 位置应为 元件本 体之黑色 （基 本 无任何绿色 ） ；元件垂直立 碑时，则 当前 检测窗口 位置应被 裸露出的 电路板基 板绿色几 乎全部 占据。 因此，在当 前检测窗 口区 域内，运 用…
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5-4-3. 侧立
a) 侧立检测方法 之 亮度投射最小跨度 1
在 Side（RGB）真彩色图像模式下：当电阻元件没有侧立时，当前窗口没有任何的亮边横向贯穿，结果
数值相对较小；当电阻元件侧立时，电阻的侧向亮边就会横向贯穿当前检测窗口，亮度投射最小跨度的
结果值则相对较大。
b) 侧立检测方法 之 亮度投射最小跨度 2
在 Top（RGB）同轴落射照明图像模式下：当电阻/电容元件没有侧立时，当前窗口被电极的亮边横向贯
穿，结果数值相对较大；当电阻/电容元件侧立时，电极亮度会很暗，不会有亮边横向贯穿当前检测窗口，
亮度投射最小跨度的结果值则相对较小。
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5-4-4. 立碑
a) 立碑检测方法 之 颜色抽取 HSV
在 Side（RGB）真彩色图像模式下：元件未垂直立碑时，当前检测窗口位置应为元件本体之黑色（基本
无任何绿色）；元件垂直立碑时，则当前检测窗口位置应被裸露出的电路板基板绿色几乎全部占据。
因此，在当前检测窗口区域内，运用颜色抽取 HSV 方法计算颜色为绿色的像素个数占窗口内像素总数
的百分比应在 50%以内（通常情况下运算结果应几乎为 0）。如若垂直立碑，运算结果将远大于 50%。
b) 立碑检测方法 之 亮度投射最小跨度
在 Top（RGB）同轴落射照明图像模式下：当元件未半垂直立碑时，当前窗口没有任何亮边横向贯穿，
结果数值相对较小；当元件半垂直立碑时，电极亮边会横向贯穿当前窗口，亮度投射最小跨度的结果值
则相对较大。
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5-4-5. 反贴
a) 反贴检测方法 之 亮度平均值
在 Side（RGB）真彩色图像模式下：电阻元件未反贴时，当前检测窗口位置应为元件本体亮度非常暗，
亮度平均值相对较小；电阻元件反贴时，电阻元件本体反面亮度非常亮，亮度平均值相对较大。
b) 反贴检测方法 之 亮度极差
在 Side（RGB）真彩色图像模式下：二极管/三极管元件未反贴时，本体表面有相对较亮的字符，当前
检测窗口位置亮度极差结果数值相对较大；而当元件反贴时，元件反面本体非常暗而且均匀一致，亮度
极差结果数值相对较小。