赫立AOI操作手册 - 第58页

上海赫立电子科技有限公司在线型自动光学检测仪使用手册第 57 页共 64 页 5-4-5. 反贴 a) 反贴检测方法之亮度平均值在 Side （ RGB ）真彩色图像模式下：电阻元件未反贴时，当前检测窗口位置应为元件本体亮度非常暗，亮度平均值相对较小；电阻元件反贴时，电阻元件本体反面亮度非常亮，亮度平均值相对较大。 b) 反贴检测方法之亮度极差在 Si de （ R…

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5-4-4. 立碑

a) 立碑检测方法之颜色抽取 HSV

在 Side（RGB）真彩色图像模式下：元件未垂直立碑时，当前检测窗口位置应为元件本体之黑色（基本

无任何绿色）；元件垂直立碑时，则当前检测窗口位置应被裸露出的电路板基板绿色几乎全部占据。

因此，在当前检测窗口区域内，运用颜色抽取 HSV 方法计算颜色为绿色的像素个数占窗口内像素总数

的百分比应在 50%以内（通常情况下运算结果应几乎为 0）。如若垂直立碑，运算结果将远大于 50%。

b) 立碑检测方法之亮度投射最小跨度

在 Top（RGB）同轴落射照明图像模式下：当元件未半垂直立碑时，当前窗口没有任何亮边横向贯穿，

结果数值相对较小；当元件半垂直立碑时，电极亮边会横向贯穿当前窗口，亮度投射最小跨度的结果值

则相对较大。

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5-4-5. 反贴

a) 反贴检测方法之亮度平均值

在 Side（RGB）真彩色图像模式下：电阻元件未反贴时，当前检测窗口位置应为元件本体亮度非常暗，

亮度平均值相对较小；电阻元件反贴时，电阻元件本体反面亮度非常亮，亮度平均值相对较大。

b) 反贴检测方法之亮度极差

在 Side（RGB）真彩色图像模式下：二极管/三极管元件未反贴时，本体表面有相对较亮的字符，当前

检测窗口位置亮度极差结果数值相对较大；而当元件反贴时，元件反面本体非常暗而且均匀一致，亮度

极差结果数值相对较小。

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5-4-6. 错件

a) 错件检测方法之亮度抽取

在 Side（RGB）真彩色图像模式下：电容元件未错贴成电阻元件时，本体表面亮度均匀且很亮，当前检

测窗口位置亮度很暗的像素数占窗口内像素总数的比例非常少；而当元件错贴成电阻元件时，电阻元件

本体较暗，导致亮度抽取亮度很暗的像素数占窗口内像素总数的百分比结果数值相对较大。

b) 错件检测方法之亮度极差

在 Side（RGB）真彩色图像模式下：电容元件未错贴成电阻元件时，本体表面亮度均匀一致，当前检测

窗口位置亮度极差结果数值相对较小；而当元件错贴成电阻元件时，电阻元件本体较暗而且字符丝印较

亮，导致亮度极差结果数值相对较大。