【IPC-7095C】_BGA设计与组装工艺的实施_(IPC标准).pdf - 第165页

附录 A 减少空洞发⽣的⼯艺控制特性描述 就 焊 球中空 洞及 空 洞 百 分比 而 言 , 更 需 关 注 空 洞 的位 置 。 没 有 证据或 经 验 数据 表 明焊 球中的空 洞 会 导 致 失 效 。 焊 球 与 封 装 基板界 面 以 及焊 球与 PCB 界 面的空 洞 更 易 导 致 焊点产 生 裂 纹 。 这是 因 为 纹 裂 ( 如 发 生 )通 常 会发 生 在 界 面, 并 且 空 洞 会提 供 ( 适 时 地 )路…

100%1 / 176
Theo I. Eijm, Albert Holliday, Frank E. Bader and Steven
Gahr. AT&T Bell Laboratories, Princeton, J. “Designed
Experiment to Determine Attachment Reliability Drivers
for PBGA Packages.”
‘Thermal and Power Cycling Limits of Plastic Ball Grid
Array (PBGA) Assemblies,” Robert Darveaux and
Andrew Mawer, Motorola.
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150
附录A
减少空洞发⽣的⼯艺控制特性描述
球中空洞及分比的位证据或数据明焊球中的空
基板界及焊球与PCB面的空焊点产这是)通会发面,
会提)路
最终产品影响决定,可
以如A-1所示的程图表述。A-1A-3
IPC-7095c-a-1-cn
A-1 型空洞评估
Yes
No
No
Yes
PCA
组装
No
BGA
BGA
验标准
No
Yes
BGA 出货
Yes
PCA
是否存在焊球空洞尺寸
于所允许空洞大值?
件批
焊球空洞允许百分比?
工艺措施
依据产品级别采取恰
纠正措施
更换
BGA
并抽检组件批
空洞焊球许百分比
PCA出货
工艺措施
依据产品级别采取恰
纠正措施
注意:空洞检测的抽样由产品要求
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A-1 1.51.271.0mm节距所⽤连接盘的
空洞类型 空洞描述
级三
元器件评估⽚/X线层合成成定(7.6.3抽样
A 球中的空
(组装之前
90%球可能有空
任何球的大空为面20%
(图45%
调查
取纠
B
(组装之前
80%球可能有
任何球的大空
为面
15%
(图40%
70%球可能有
任何球的大空
为面10%
(图32%
50%球可能有
任何球的大空
为面5%
(图计的22%
调查
取纠
考虑所有球的无论其
组装之后评估
⽚/X线层合成成定(7.6.3抽样
C PCA再流后球中
的空
100%球可能有空
任何球的大空为面25%
(图50%
调查
来料部取纠
D PCA再流后,空
100%球可能
有空
任何大空
为面25%
(图
50%
80%球可能有
任何大空
20%
(图45%
60%球可能有
任何大空
为面15%
(图40%
调查
来料部取纠
考虑所有球的无论其
E PCA再流后,空
贴装
100%球可能
有空
任何大空
为面25%
(图50%
80%球可能有
任何大空
为面20%
(图45%
60%球可能有
任何大空
为面15%
(图40%
调查
来料部
取纠
洞小于其2%(图15%)的球不计
元器件料或组装之后的⼯艺评估,由X线定(7.6.3抽样
A,B 来料空洞高80%球可能有
任何大空
为面15%
(图40%
70%球可能有
任何大空
为面10%
(图
32%
50%球可能有
任何大空
为面5%
(图22%
调查
取纠
考虑所有球的无论其
C,D,E PCA再流后的空洞高70%球可能有
任何大空
为面25%
(图50%
60%
球可能有
任何大空
为面25%
(图50%
50%球可能有
任何大空
为面20%
(图45%
调查
来料部取纠
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