【IPC-7095C】_BGA设计与组装工艺的实施_(IPC标准).pdf - 第23页

必 要的, 但配 置 足 够 多 的测 试点 对所有 焊点 进 行完 全 测 试 可能有 困 难 。 需 要一 些替 代测 试 方 案 , 如 在 BGA 器件内设 计 边 界扫描 功 能, 减少 I / O 扇 出 探 测 点 的 数 量。为了 改善 测 试 能力,有 的 BGA 在 其封 装 顶 部 设置 了测 试点 。 这 并不 是 个 好 方 案 , 因 为 它 对 BGA 元器件及其焊点施加 了 压 力。 3.2 投放市场准备…

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接。BGA维修和检验的。
焊膏热及视觉能的返修必须
的,的。X射线和光检测能
力()有工艺开发。
3.1.4 模板要求 使用节距BGA元器
时,模板模板和连接
尺寸决定焊膏体积于陶瓷BGA是很重
要的。模板(在部的开略比
大)有更好地使焊膏
。通,对
于节距1.25mm1.00mm的大BGA元器件
大,使模板堵塞位和
方面的问题比平封装(QFP元器
的要
使模板密节距BGA的要求匹配
解模板焊膏颗粒间关随着
连的连接形尺寸及它们的节距
,标准IPC-7525说明
决定
3.1.5 检验要求 同任何表面贴装元器件
BGA贴装毕就不可动,使焊
膏模接。偏移目检可发
但如果元器件与连接偏移不大
50%多元器件再流焊过程中会动对准。
如果BGA严重偏移问题再流焊
前将电路,并在行返工。
并不实,在拆除BGA
X射线或检测
良检许是要的。
3.1.6 测试 使用BGA要开发测
于焊点不能测到,所计测试点
环氧树脂
BT基板
金属线键合
连接
料球(6337
IPC-7095c-3-6-cn
图3-6 塑封球栅阵列,芯⽚⾦属线键合
IPC-7095c-3-7-cn
图3-7 球栅阵列,倒装芯⽚键合
高温熔融焊料或Z轴互连材料
阻焊层
环氧树脂底部填充
铜电路和电镀通孔
导热孔
焊球
IC芯片
高性能层压材料
IPC-7095C-C 20131
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要的,但配的测试点对所有焊点
行完可能有要一些替代测
BGA器件内设界扫描能,减少
I/O量。为了改善能力,有
BGA其封设置了测试点并不
BGA元器件及其焊点施加
力。
3.2 投放市场准备 BGA安装在产品之前
不仅在于解决技术问题
考虑
能的业意如果产品和技术同时研发,上市
机非可能会到不影响的方
在安装到实产品之前先进研发和技术验
不然如果产品和技术上出问题,会
止日期。为了上市就绪
分析BGA和工艺程。
3.3 ⽅法 试平衡尺寸、成本
间的关行设决策时,必须考虑
这些考虑
产品也必须
中,在命周期靠运行
装的到可靠性因素如温
度变化、冲击湿度影响
3.4 ⼯艺步骤分析 地使用BGA有一
途径途径决于公司目
什么计和组装设备这些设备
地完工作。下面提了一
的示例:
1. 使用BGA
选产品单。
2. 基于量,开发一份设备清单。如果
充分,有
培训中心者咨询师成本和时
间。
3. 组建有计、制造、测管理及采
人员代表的一个团队,此团队负责元器件
及设备评估
4. 开发一份强 BGA 制造性细设
南,可能采用的标准。
5. 选产品从已使用密节距元器件
产品
6. 定无铅产品要,用于元器件
合金贴装基板的表面处理类型
7. 的组装和测评估元器
件采 程,以确器件符合规定的包
装、运输金属化、可焊性在发
中的位。
8. 开发合性工艺标准和良
系统
9. 选产品
于元器件同时客户要求和符合新的
法规
客户需要列出有元器件级完整
件级的所有材料的报告。为了厂家推进
项工作,IPC已经制定对材料申报的标准
IPC-1751IPC-1752,同时也鼓励软
发可 的工 标准要求。
一个正式申报系统为汽车工业已受欧盟
“报废辆”挑战
为表示产品中可能会出 的各材料性质范
,表3-3出了可能用于表面处理的材料
连时的材料清单。
3.5 BGA的局限性和问题
BGA技术
业主但这项技术有一考虑
决策这些是业和技术上的问题
解决这些
外观检验
湿敏性
成本
BGA中的空
焊点开路(BGA或叠BGA
枕头效现象
标准及其采用
靠性问题
BGA问题非无法解决但是这专门的工
程资源来研发和实的工艺。
3.5.1 外观检验 BGA
合于厂商
验和维修保证质量的装。非使用X射线或
测技术,否则无法BGA焊点
验。为BGA来的优势必须
的工艺 时间和培训
厂商这样严的工艺一个
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有一BGA外观检验方识别焊点
BGA球,可以看陶瓷BGA
塌陷BGA塌陷球的良动的
作为这些问题的标
志,BGA与连接的对齐情
BGA在电路
倾斜的。
3.5.2 湿敏性 装的BGA湿敏性极高
BGA烘烤或组装前没
使它现翘膨胀裂或
等情元器件贮存作程BGA/
FBGA是至 要的其它任何湿敏元器
,包引线的表面贴装器件
的。
元器件湿敏性J-STD-020来测湿敏
性决定于封装的 BGA类型湿
分析
BGA类型
是很的,度分别220°C
235°C245°C250°C260°C如果使用
类型湿敏性可能要下降几
于模系统改善多数
基于层压板BGA可在高于220°C下安装。
密封陶瓷BGA非湿敏器件此可在任一
较高下实安装。无铅焊切换
验和验下的工艺
260°C不仅BGA会面严重
,所有其它表面贴装器件问题
3.5.3 热⾮平衡BGA设计 BGA
现当边时的可能会
有连接上。缘也可能
此可“哭脸”“笑脸”BGA
识别这两种。所“笑脸”BGA基板
施压,而“哭脸”BGA基板
球连接位置施压工时仅施加
焊剂时面的实问题。大尺寸芯片
PCB层压材料CTE匹配
3-8
3-3 可能的电镀或元器件端⼦材料性质
Au
Au,电
Au
(In)
/金(i / Au),化镀镍/
/金(i / Au),电
/金(i / Au),
/ (i / Pd)
//金(i/Pd/Au)
//金(i/Pd/Au),化镍钯浸
性保护剂OSP
性保护剂OSP-HT
(Pd)
//(Pt/Pd/Ag)
(Ag)
(Ag),电
(Ag),浸镀
(Ag),有(i )
/(Ag/Pd)
/(Ag/Pd),有(i )
(Sn)
(Sn),光
(Sn),光退
(Sn),光
(Sn),光再流
(Sn),光
再流覆盖(i )
(Sn),光(i )
(Sn),光(Ag)
(Sn),浸镀
(Sn),浸镀
(Sn),
(Sn),光,退
(Sn),光,
(Sn),光,再流
(Sn),光,(i )再流
(Sn),光,(i
)
(Sn),光,(Ag)
(Sn),再流
(Sn),光(Sn)
/,(SnBi), <5% Bi
/,(SnBi), =>5% Bi
//金(Sn/Bi/Au)
/铜(Sn/Cu)
/铜(Sn/Cu),退
/铜(Sn/Cu),热风表面整平
/铜(Sn/Cu),浸镀
/铜(Sn/Cu),
/铅(Sn63Pb37)
/铅(Sn90Pb05)
/铅/(Sn/Pb/Ag)
/(Sn/Ag)
/(Sn/Ag),浸镀
/(Sn/Ag),电
//(Sn/Ag/Bi)
///铜(Sn/Ag/Bi/Cu)
//铜(Sn/Ag/Cu)
//铜(Sn/Ag
/Cu),浸镀
/(Sn/Zn)
//(Sn/Zn/Al)
//(Sn/Zn/i)
AC(不-必须供注)
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