【IPC-7095C】_BGA设计与组装工艺的实施_(IPC标准).pdf - 第90页

要达到此 比 值 , 采用 套 印或比 连接 盘 大的开 孔 是 必 要的。特 别 是 对 于较细节距 的 BGA , 模板 开 孔 通 常 为 1 : 1 或略小于 连接 盘 以 达到 密封 效果 。 如果当 需 要 模板 开 孔比 连接 盘 大时,为了达到 理 想 的面 积比 以 实 现更好 的 焊膏 释 放 ,在 每 次 印 刷 之 后 的 模板 清 洗 是 必须 的。 较 大的开 孔 会 导 致 焊膏 泄 漏 至 模板底 部, …

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焊性。在再流过程中于多种原因形成的
常是靠性所关心的问题,特包含有
节距器件时。制焊膏粘性
的作,并影响流变性质BGA焊点中空
成与焊膏中的有关。
/或再流使BGA焊点中空
生率增加
为了细节距BGA的成焊膏必须
模板极小的开焊膏
要在一的时间
持可粘性,同时必须再流焊之前
的清焊膏粘度颗粒
模板寿命施加焊膏时的关
7.1.1.1 颗粒尺⼨和选择 市面上的焊膏
据印焊剂密节
距焊颗粒尺寸焊膏
可提
塌陷焊膏中的焊剂应
并能表湿性再流
使用免焊剂与清工艺表面电
要求兼容颗粒宽度
除以4.2结论是由实验验得出的。
反这条规定时,会影响焊膏
颗粒尺寸J-STD-005行分类
7-1
颗粒尺寸分布影响焊膏粘度和可
类型3焊膏使用的,用于大部分印
用途极密节距CSP应用可能使用类型4
焊膏。在类型4心,
颗粒表面增加增加颗粒氧化的
可能,使焊性降低使用类型4
时,再流焊要的。
7.1.1.2 模板
度和开孔设计 所有元器件
随着元件节距小模板
。对于节距范1.5mm1.0mmBGA元器
模板0.15mm[0.006
in] 0.18mm[0.007in]。对于芯片尺寸封
CSP或节距小于 0.80mm 细节
BGA其模板推荐0.1mm[0.004in]
0.15mm[0.006in]CSP其它密节距面阵列
装通并不印制电路组
一的元器
,所模板必须平衡点
型模板,对CSP可能不
其它元器件节距较大的BGA供足
焊膏如枕头效应或降低ASIC
寿命等
决定模板焊膏量时,焊膏
较多比积较少更目标为达到
开路值左这是
并不表示
数增加很少检,们一会在
ICT能测一方面,
为检测时焊点可能会接,开路和间
开路很容检测,最终致现场失
。所模板和连接形设计时,目标设定
开路单准是预场失
比最的方
可提 焊膏
模板孔设很重
要。为了焊膏推荐使用
1.5模板孔宽度模板
一个值是积比推荐使
0.66的面积比。计算面积比的公模板
的面除以的面7-1使用
这些推荐和面积比模板设
许更焊膏
残留焊膏会部堵塞
减少子上焊膏印量,焊点焊
接不开路。
连接积/模板积/孔
= L*W/2*(L+W)*T >0.66
LxW
2(L+W)
xT
在开孔设计中比比积比更常
连接远大连接盘宽度时,
积比的一形式例:一个尺寸
0.35mm的方0.125mm
积比
0.35x0.35
2(0.35+0.35)x0.125
=
0.1225
0.175
= 0.70
7-1 颗粒对⽐
类型
颗粒
[μm]
类型2 -200/+325 75
类型3 -325/+500 53
类型4 -400/+500 38
类型5 -500 25
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要达到此采用印或比连接大的开
要的。特于较细节距BGA模板
1:1或略小于连接达到密封效果
如果当模板孔比连接大时,为了达到
的面积比现更好焊膏,在
模板必须的。大的开
焊膏模板底部,的电路
意的,在
用于CBGA
CCGA和通孔内焊膏PIH)工艺的模板时,
孔应远大连接
形倒的方形或可提供更好
焊膏量。
7.1.1.3 量的重要性 BGA
分焊膏是由元件球提的,此时
量并不那么。对于节距0.80mm
BGA铅或无铅方)模板决于
印制板使用其它类型
元器件料量
模板于带塌陷铜焊或高
302°C90%铅/10%锡球的陶瓷BGA
用于陶瓷BGA球在通再流焊过
程中不会塌陷7-2
料量的塌陷球(铜制
90Pb/10Sn球)的CBGA,可能
使用式模板尺寸0.04mm0.08
mm
在电路表面施加两种不同的焊膏
尺寸0.04mm时,金属刮刀
使用如果使用模板线开任何
离至少3.75mm高铅含量
球不会塌陷焊膏是很重要的。
使用式模板模板
塌陷球所焊膏量。连接
间的填充决于焊膏量。CBGA
CGA要有一个焊膏靠焊点
有此技术能为装提定焊膏
量。7-2陶瓷封装的焊膏使用量要求
范例使用/铅或无铅SAC焊膏
7-2
焊膏量要求对/铅无铅焊膏应
的。外铜制焊或高90%Pb/10%Sn球的
量要求同的,这两种球在再流
IPC-7095c-7-1-cn
图7-1 膏释放的宽⽐和⾯
焊料模板特征尺寸
开孔长度(L)
模板厚度(T)
开孔宽度(W)
IPC-7095c-7-2-cn
图7-2 ⾼铅共晶焊球及其焊点对⽐
PBGA基板
PWB
62/36铅/2
b)
a)
CBGA基板
PWB
晶锡/铅90/10铅/
7-2 陶瓷阵列封装量要求
器件
节距
(mm)焊合⾦
μm
3
最⼩ ⼤)
CBGA/
CuBGA
1.27 /铅或无铅 78,660,000 163,870,000
CBGA/
CuBGA
1.00 /铅或无铅 40,968,000 75,380,000
CCGA/
CuCGA
1.27 /铅或无铅 60,632,000 124,542,000
CCGA/
CuCCGA
1.00 /铅或无铅 32,321,000 81,935,000
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程中都不发生塌陷所有填充都要求通
过焊膏
陶瓷BGA使用非塌陷球而使用再流
中会发生塌陷无铅SAC球,焊点
填充贡献/铅焊球在BGA中一
7-2中所示并不用于BGA或使用
塌陷球的陶瓷BGA
为了使含有塌陷球(铜或Pb90/Sn10)的
陶瓷封量,孔放
模板连接盘或使用较模板印。对
CBGA的电路上的其它元器件要对开
孔尺寸行修改以模板带来的
要时使用模板
7.1.2 元器件装影响 BGA技术阶段
要一新的组装能力。决于片机系统
要对运载机构以将从矩
托盘转移要贴装的位
视觉系统BGA
连接确切
同在密节距外引脚元件中所的一
决于器件体尺寸料上大BGA元件
44mm56mm,而BGA
JEDEC托盘
7.1.3 视觉 贴装BGA工艺的
的部。强机器贴装
BGA可能会焊点间的
接,而连接
不能通到。贴
大部决于视觉系统吸嘴
元器件的能力。视觉系统与实应用匹配
是很重要。视觉系统在贴装之前决定元器
XY标和偏移决定元器件
偏移视觉系统检测元器件尺寸
完整性球。基于CCD(电合器
系统采用两种照被称
这两种对光和对
化都是很感的。
系统使用照亮元器件
表面特CCD头以供处理
制系统使用上方照亮元器件
器件轮廓投影CCD头以供处理
是这两种的一使用
来对特征进行定位。系统
256这两种系统采用
定元器件的中心。
计算能力的要求
像基于焊球位BGA元器件贴装,
则根据元器件轮廓进BGA元器
贴装。在下,BGA外形间的
差很大。为可以减少由元器件外形变化而
的贴装更适合于贴装BGA
元器件
片机吸嘴
是很重要的,要有表面
同时避免在贴装程中的偏移吸嘴必须
元件,不,接
要的,Z)的主
程,元器件吸嘴
7.1.4 再流焊线 再流焊是具多变
的复杂工艺。所有量产用再流系统都包
传导辐射热传递
的程决于再流系统计,所有计都
达成 同的 再流焊 五个
不同的阶段分别1焊膏中的发,
2激活焊剂生助3)对元器
印制电路
4料并发
当润湿5
管再流焊采用热传递
念是什么BGA元器件球主要
热传导的,其说明7-3所示。
流焊度曲线vs.时间)包值温
定封装和个组的不同而化。然而,
作为一个南,使用SAC305焊膏SAC
305球的BGA
行焊接时,对复杂
PCBA最小峰值温度应240°C
使用/铅共焊膏SAC305球的BGA
行焊接时,下的最小峰值温
215°C推荐再流
7-3
年,再流焊设备变采用了五
IR、面
制热风
极管光。汽相再流技术
流行年。最终成了的方
制热风(提95%量)IR
(提5%量)技术
作为再流应用极管
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