JM-20使用说明书 - 第250页
第 1 部 基本篇 第 2 章 生产 2- 132 贴片基板面高度测量 2- 11 -4- 1 概要 从菜单选择 [ 生产辅助 ] → [ 贴片基板面高度测量 ] ，即显 示贴片基板面 高度测量 画面。 2- 11 -4- 2 显示 详情请参见「 2- 15-10 贴片基板面高度 测量」。 检查脏污 从菜单选择 [ 生产辅助 ] → [VC S 脏污检查 ] ，即显示 VCS 脏污检查 对话框。 VCS 脏污检 查的详情，请参 见「 2…
第 1 部 基本篇 第 2 章 生产
2-131
(3) 激光高度测量范围
指定测量的范围。（反复范围与元件、激光高度的位置关系，请参见后述的项目）
1) 测量动作
a）当前位置
从测量激光高度值中设置的“激光高度”值开始，按设置的范围反复进行测量。
激光定心成功后，测量即告结束。
b）元件吸取面＝＞元件下面
c）元件下面＝＞元件吸取面
在激光高度判定值所显示的值之外，另行对元件的高度范围进行测量。
开始点可从元件吸取面，或元件下面开始。
2) 测量方向
a）上下交互
b）上方向
c）下方向
3) 移动步骤、移动范围
设置测量时的移动步骤和移动范围。
移动范围
移动步骤
当前激光高度
移动范围
元件侧面
(4) 激光高度检查结果
显示激光定心执行后的激光状态的值。
与执行连续检查激光高度中（单独检查激光高度）的画面相同。
2-11-3-7 激光高度测量的重复范围
根据画面上选择不同的测量动作、测量方向，检查的重复范围会有变化。
测量动作（开始点）
测量方向
内容
当前位置
上下交互
从当前位置开始上下交互进行连续检查。
上方向
从当前位置开始仅向上方向进行连续检查。
下方向
从当前位置开始仅向下方向进行连续检查。
元件吸取面
->
元件下面
－
以元件高度为基础，从元件吸取面到元件下面
进行连续检查。
元件下面
->
元件吸取面
－
以元件高度为基础，从元件下面到元件吸取面
进行连续检查。
第 1 部 基本篇 第 2 章 生产
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贴片基板面高度测量
2-11-4-1 概要
从菜单选择 [生产辅助] → [贴片基板面高度测量]，即显示贴片基板面高度测量画面。
2-11-4-2 显示
详情请参见「2-15-10 贴片基板面高度测量」。
检查脏污
从菜单选择 [生产辅助] → [VCS脏污检查]，即显示VCS脏污检查对话框。
VCS脏污检查的详情，请参见「2-11-1-13 VCS脏污检查」的项目。
第 1 部 基本篇 第 2 章 生产
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极性检查
2-11-6-1 概要
从下拉菜单的[生产辅助]中选择[单独极性检查]/[连续极性检查]。
将实际元件安装到Head，以程序(元件数据)中设定的供应角度信息为基准进行检查。
请再准备结束后再实施。以下显示各项检查的内容。
不能测量电阻值或电容量、二极管的极性判别。仅可进行INS电解电容的极性判别。
检查 内容
单独极性检查
从下拉菜单选择单独极性检查时，仅对指定的元件进行极性检查。在连
续检查模式下，对出现错误的元件进行个别检查。
连续极性检查
从下拉菜单选择连续极性检查时，对生产程序数据内所有元件中与条件
一致的元件进行检查。
◆ 对于检查时因某种原因失败的元件，可在单独模式下进行个别检查
。
2-11-6-2 各动作
(1) 吸取时使用的Head
吸取Head会自动选择。使用吸嘴时已安装的吸嘴优先，以减少吸嘴更换。根据吸嘴的安装状况，
各项检查时Head有可能不同。
(2) 检查后的元件归还／废弃条件
废弃位置以元件数据的「元件废弃」的设定为基准。
(3) 选择吸取的供应装置
如果同一元件有多个供应装置(吸取数据)，默认从最先输入的数据开始吸取元件。
仅进行单独检查的供应装置，也可按照意愿进行变更。
(4) 变更吸取坐标
如果吸取不顺利，可通过手动输入或示教功能变更吸取坐标。