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Test Research, Inc. TR7500 SIII Series User G uide – Soft ware 91 圖 129 : Void 框參 數設定畫面 – 與焊 盤連動設定 – 移動 到焊盤尾端 - 移動到焊盤的中心軸: 移動檢測框到與 Lead 框所設定焊盤 中心共水平 / 垂 直位置, 如下圖所示。 圖 130 : Void 框參 數設定畫面 – 與焊 盤連動設定 – 移動 到焊盤的中心軸 - 限制在焊盤範圍…

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Test Research, Inc.
90 TR7500 SIII Series User Guide Software
3.7.16 顏色檢測(Void)
Void 框可區分為三類,分別為 Ratio ModeBlob ModeSim mode
Ratio Mode
用途:利用比例來檢查元件的錫點空焊、缺件或極反。
檢測原理:1.灰階模式:計算亮或暗區占整個檢測框的比例。
2.色彩模式:計算所選取的色彩占全部檢測框的比例。
參數畫面與說明:
128:顏色檢測框參數設定畫面 – Ratio Mode
硬體設定:
相機:切換不同角度的相機,可選擇上、前、後、左、右五個方向
燈光:選擇使用均勻光、錫形燈源、低角度燈源或者白燈,預設為白燈。
基本參數與其對應的合格標準:
影像模式:選擇影像的比對方式為權重法、色彩空間法或 RGB 法,預設為色彩空間法。
面積比例上/下限(%)設定
與焊盤連動設定:
- 移動到焊盤尾端:當焊盤尾端間距設為 0 表示貼齊焊盤的末端,增加盤尾端間
距即分開檢測框到焊盤尾端的距離,如下圖所示。
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129Void 框參數設定畫面與焊盤連動設定 移動到焊盤尾端
- 移動到焊盤的中心軸:移動檢測框到與 Lead 框所設定焊盤中心共水平/直位置,
如下圖所示。
130Void 框參數設定畫面與焊盤連動設定 移動到焊盤的中心軸
- 限制在焊盤範圍內:限制檢測框落在 Lead 框所設定的焊盤的範圍內,如下圖所示。
131Void 框參數設定畫面與焊盤連動設定 限制在焊盤範圍內
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Blob Mode
用途:利用區塊數量來檢查用來檢測金手指表面刮傷、髒污與積體電路翹腳
檢測原理:1.灰階模式:計算亮或暗區占整個檢測框的比例。
2.色彩模式:計算所選取的色彩占全部檢測框的比例。
參數畫面與說明:
132Void 框參數設定畫面 – Blob Mode
硬體設定:
相機:切換不同角度的相機,可選擇上、前、後、左、右五個方向
燈光:選擇使用均勻光、錫形燈源、低角度燈源或者白燈,預設為白燈。
基本參數與其對應的合格標準:
影像模式:選擇影像的比對方式為權重法、色彩空間法或 RGB 法,預設為色彩空間法。
Blob Mode
- 區塊數量:顯示所計算出來的 Blob 總數量。當偵測模式為 Blob Pass,檢測值
公差值,當偵測模式為 Blob Fail,檢測值>公差值。
- 缺陷模式:區分為 Blob Pass/ Blob Fail