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Test Research, Inc. TR7500 SIII Series User G uide – Soft ware 161 − 作業:  複製 :可 以將對 位標記 、壞 板標記 與條 碼進 行複製 的動作 。在 點選小 板位置, 即可新增出一組複製關 係,主要為設定與小板的 關係。當新 增壞板標記 / 條碼 時,如果在小板尺寸內 ,預設為連結到各小板。  連結:可以將對位標記 、壞板標記與條碼進行連結 的動作。主要為設定…

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Test Research, Inc.
160 TR7500 SIII Series User Guide Software
230:複製新元編輯元件資料
4) 確定位置正確後,按下[新增]
5) 此時可重複新增元件,如欲關閉功能請按檢測板圖區右上角的叉叉。
231:複製新元件介面離開方式
金手指:快速產生檢測金手指所需要的檢測框。點選功能後,直接在電路板上金手指
部分拉出想要檢測的範圍,選擇[],系統會自動產生檢測金手指的輪廓檢測(Contour)
框。關於輪廓檢測框的參數,請參閱 3.7.17
對位標記/壞板標記/條碼
連結/複製:點選進入連結/複製頁籤。
232連結/複製相關頁籤
類型:選擇要進行作業的項目。
Test Research, Inc.
TR7500 SIII Series User Guide Software 161
作業:
複製:可以將對位標記、壞板標記與條碼進行複製的動作。在點選小板位置,
即可新增出一組複製關係,主要為設定與小板的關係。當新增壞板標記/條碼
時,如果在小板尺寸內,預設為連結到各小板。
連結:可以將對位標記、壞板標記與條碼進行連結的動作。主要為設定與小
板的關係。當新增壞板標記/條碼時,如果在小板尺寸內,預設為連結到各
板。
取消連結:取消對位標記、壞板標記與條碼與小板的連結關係。
舉例來說,當選擇對標記時,在大圖模式上會顯示出對位標記的位置,使用者在左邊
板子頁籤中,選擇一個對位標記後,然後在大圖上選擇一個子板,最後按下連結。
這時候該對位標記就會被指定是在這個子板上使用,並且會在頁籤中該對位標記下顯
示其連結的板子,如下圖表示 F1 是小板 1 的各別對位標記(Local FM)
233連結/複製對位標記/板標記/條碼設定視
如欲關閉功能請按檢測板圖區右上角的叉叉,如下圖所示。
234連結/複製頁籤離開方
Test Research, Inc.
162 TR7500 SIII Series User Guide Software
一般編輯
235:一般編輯設定視窗
刪除:刪除已選擇的物件
不測:設定已選擇的板子或元件將不進行測試。
取消不測:將不進行測試的板子或元件恢復進行測試。
重新命名:重新對選擇的元件類別、板子模組和機種名稱進行變更
236:重新命名設定視窗
元件類別:元件所屬類型,可能為封裝型式或料號。
板模:專案開發可以載入不同的 cad 檔案,會被區分為不同板模。
機種名稱:指傳送到維修站顯示的名稱,與專案名稱不同。
版本:機板因應不同規格所上的元件會有所差異,以版本來控制。
外殼遮罩
遮罩區域:選擇遮罩的區域,在範圍內的元件將會自動被設定為忽略不測。點選後,
會出現如下圖的介面。
237:遮罩區域頁籤功能
新增遮罩區
矩形:以矩形的方式設定遮罩區域。
圓形:以圓形的方式設定遮罩區域。
刪除遮罩區
刪除:刪除設定的遮罩區域。