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Test Research, Inc. TR7500 SIII Series User G uide – Soft ware 243 圖 360 ： 勾選 [ 多件檢測 ] 功能 步驟 2. 設定檢測框的框屬性為 “ 上件 ”( 勾選 ) 或者 “ 不上件 ” ( 不勾選 ) 。 圖 361 ： 勾選 [ 上件 ] 功能 步驟 3. 當沒開啟多件檢測功能 且電路板或 元件為忽略 (S kip) 時， “ 上件 ” 的檢 測框將被檢測， …
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242 TR7500 SIII Series User Guide – Software
8.2 Laser3D 框自動學習功能
用途：利用系統自動設定 Laser 3D 框的 PR 值與 Nominal Height 值。系統會藉由掃描一
次全板，統計相同類型元件的資料，由此計算出 PR 值與 Nominal Height 值。
備註：掃描全板之前，必須先將 Laser3D 框建立在所需的元件位置上。
操作流程：
步驟1. 在主程式畫面選擇[開始]>[流程配置]。
步驟2. 勾選 3D 標準值測式模式，並在名稱命名為 Auto Learn 後，按下[OK]。
步驟3. 在主畫面檢測流程選擇剛剛設定的 Auto Learn 後，按下 。
步驟4. 掃描完成後，系統會自動將學習結果填入 Laser3D 框中。
8.3 多件檢測
用途：用來檢查在 SMT 製程中不須上件的位置是否有多上件的問題。
備註：此功能的檢測速度比異物檢測功能還要快速。此外，當開啟功能時，會影響資料庫
設定。
操作流程：
步驟1. 在主程式畫面[開始]>[產品配置]>[共用]，勾選[多件檢測]後按下[OK]。
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TR7500 SIII Series User Guide – Software 243
圖 360：勾選[多件檢測]功能
步驟2. 設定檢測框的框屬性為“上件”(勾選)或者“不上件” (不勾選)。
圖 361：勾選[上件]功能
步驟3. 當沒開啟多件檢測功能且電路板或元件為忽略(Skip)時，“上件”的檢測框將被檢測，而
不測的元件將不被檢測。當開啟多件檢測功能且電路板或元件為忽略(Skip)時，除了“上
件”的檢測框將被檢測外，不測的元件將會檢測“不上件”的檢測框。
8.4 解碼失敗替代條碼功能
用途：當預設的 2D 條碼解碼失敗時，系統可以自動改用貼在此條碼旁邊的印刷條碼文字
取代解不出來的 2D 條碼。
備註：此功能不支援 OCR、硬體和流水號條碼檢測框。
操作流程：
步驟1. 先建立 2D 條碼檢測框。
圖 362：新增 2D 條碼檢測框
步驟2. 再次新增次要檢測框。
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244 TR7500 SIII Series User Guide – Software
圖 363：新增次要檢測框
步驟3. 勾選次要檢測框的[解碼失敗的替代影像]後，在設定其影像角度。
圖 364：啟動[解碼失敗替代影像]功能
步驟4. 在主程式[開始]>[流程配置]>[一般設定]>[當條碼讀取失敗時允許手動輸入]。
步驟5. 在主程式[開始]>[流程配置]>[流程設定]>[讀取軟體條碼]。
步驟6. 當 2D 條碼失敗時，會自動以次要檢測框的文字取代，如下圖所示。