7710PDFA - 第264页
Test Research, Inc. 244 TR7500 SIII Series Us er Guide – Sof tware 圖 363 :新增次要 檢測框 步驟 3. 勾選次要檢測框的 [ 解 碼失敗的替 代影像 ] 後,在 設定其影像角度 。 圖 364 : 啟動 [ 解碼失敗替代影 像 ] 功能 步驟 4. 在主程式 [ 開始 ]>[ 流 程配置 ]>[ 一般設定 ]> [ 當條碼讀取失敗時允許 手動輸入…

Test Research, Inc.
TR7500 SIII Series User Guide – Software 243
圖 360:勾選[多件檢測]功能
步驟2. 設定檢測框的框屬性為“上件”(勾選)或者“不上件” (不勾選)。
圖 361:勾選[上件]功能
步驟3. 當沒開啟多件檢測功能且電路板或元件為忽略(Skip)時,“上件”的檢測框將被檢測,而
不測的元件將不被檢測。當開啟多件檢測功能且電路板或元件為忽略(Skip)時,除了“上
件”的檢測框將被檢測外,不測的元件將會檢測“不上件”的檢測框。
8.4 解碼失敗替代條碼功能
用途:當預設的 2D 條碼解碼失敗時,系統可以自動改用貼在此條碼旁邊的印刷條碼文字
取代解不出來的 2D 條碼。
備註:此功能不支援 OCR、硬體和流水號條碼檢測框。
操作流程:
步驟1. 先建立 2D 條碼檢測框。
圖 362:新增 2D 條碼檢測框
步驟2. 再次新增次要檢測框。

Test Research, Inc.
244 TR7500 SIII Series User Guide – Software
圖 363:新增次要檢測框
步驟3. 勾選次要檢測框的[解碼失敗的替代影像]後,在設定其影像角度。
圖 364:啟動[解碼失敗替代影像]功能
步驟4. 在主程式[開始]>[流程配置]>[一般設定]>[當條碼讀取失敗時允許手動輸入]。
步驟5. 在主程式[開始]>[流程配置]>[流程設定]>[讀取軟體條碼]。
步驟6. 當 2D 條碼失敗時,會自動以次要檢測框的文字取代,如下圖所示。

Test Research, Inc.
TR7500 SIII Series User Guide – Software 245
圖 365:解碼失敗時次要檢測框影像替代畫面
8.5 混料測試功能
用途:當客戶端某元件類型常換料時,可以透過此功能將常換料的元件類型設定屬於多個
類型(Type),在往後檢測時會進行這些類型的檢測,而減少誤判。
操作流程:
步驟1. 在原圖模式下,點選常換料的元件類型後,開啟[框屬性]後,按下類型右方的 按鈕。