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Test Research, Inc. 34 TR7500 SIII Series User G uide – Soft ware 圖 44 ：套用模組元件庫來產生元件所需的檢測框 5) 接著，調整每個檢測框的大小與參數，來達到該檢測框所要檢測的項目。關於檢測框的檢測影像處理方式、對比方式以及其檢測原理與參數，將說明於接下來的章節。 6) 對於有導腳的元件，使用者需要使用到導腳框的功能，以下將以積體電路元件…

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圖 43：模組化資料庫

4) 選擇與原圖中元件相對應的元件圖式。以範例來說，原圖中的元件為晶片電容，所以

我們需選擇其對應的圖示。點選之後，系統會自動產生此元件所需的檢測框，

如下圖所示。

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圖 44：套用模組元件庫來產生元件所需的檢測框

5) 接著，調整每個檢測框的大小與參數，來達到該檢測框所要檢測的項目。關於檢測框

的檢測影像處理方式、對比方式以及其檢測原理與參數，將說明於接下來的章節。

6) 對於有導腳的元件，使用者需要使用到導腳框的功能，以下將以積體電路元件來作示

範，或參閱 5.3.9 。同步驟 2)，使用者須將元件本體框調整至與元件本體大小相同，如

下圖所示。(對於較大的元件，請使用滑鼠的滾輪來縮放元件大小)

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圖 45：調整 CAD 方格與元件大小相符 – 積體電路元件

7) 接著，點選後，在積體電路的導腳上排最左邊的導腳上拖曳出檢測框。