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Test Research, Inc. TR7500 SIII Series User G uide – Soft ware 41 圖 52 ：套用積體 電路模組資料庫 16) 同步驟 5) ，調整每個檢測 框的大小與參數 ，來達到 該檢測框所要檢 測的項目。 手動增加檢測框： 1) 直接在元件清單顯示區 點選想要製作檢測框的元 件上按兩下 ，或者在大圖 上任何一個 元件的 CAD 方格 ( 本體框 ) 上點選兩下， 即可進入 該元…
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圖 51：旋轉複製導腳框
15) 最後，同步驟 3)，點選”模組化資料庫”頁籤，並點選 ，系統會自動產生所有的
檢測框。
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TR7500 SIII Series User Guide – Software 41
圖 52：套用積體電路模組資料庫
16) 同步驟 5)，調整每個檢測框的大小與參數，來達到該檢測框所要檢測的項目。
手動增加檢測框：
1) 直接在元件清單顯示區點選想要製作檢測框的元件上按兩下，或者在大圖上任何一個
元件的 CAD 方格(本體框)上點選兩下，即可進入該元件的原圖畫面。
2) 點選左上方工具列中的 。
3) 在原圖畫面上想要新增檢測框的位置拖曳一個適當大小的檢測框，系統會自動跳出以
下視窗。
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圖 53：新增檢測框設定視窗
4) 使用者需先選擇想要的檢測框演算法和缺陷類型後，按下[確定]。
5) 若要刪除檢測框，可以點選欲刪除的檢測框後，按下 或者熱鍵[Del]來刪除。
6) 接著，調整每個檢測框的大小與參數，來達到該檢測框所要檢測的項目。