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Test Research, Inc. 42 TR7500 SIII Series User G uide – Soft ware 圖 53 ：新增檢測 框設定視窗 4) 使用者需先選擇想要的 檢測框演算法和缺陷類型 後，按下 [ 確定 ] 。 5) 若要刪除檢測框，可以 點選欲刪除的檢測框後， 按下 或者熱鍵 [Del] 來刪除。 6) 接著，調整每個檢測框 的大小與參數，來達到該 檢測框所要 檢測的項目。
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圖 52：套用積體電路模組資料庫
16) 同步驟 5)，調整每個檢測框的大小與參數，來達到該檢測框所要檢測的項目。
手動增加檢測框：
1) 直接在元件清單顯示區點選想要製作檢測框的元件上按兩下，或者在大圖上任何一個
元件的 CAD 方格(本體框)上點選兩下，即可進入該元件的原圖畫面。
2) 點選左上方工具列中的 。
3) 在原圖畫面上想要新增檢測框的位置拖曳一個適當大小的檢測框，系統會自動跳出以
下視窗。
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圖 53：新增檢測框設定視窗
4) 使用者需先選擇想要的檢測框演算法和缺陷類型後，按下[確定]。
5) 若要刪除檢測框，可以點選欲刪除的檢測框後，按下 或者熱鍵[Del]來刪除。
6) 接著，調整每個檢測框的大小與參數，來達到該檢測框所要檢測的項目。
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3.3 檢測的燈光
機台配有四種不同的光源供使用者進行切換，其包含：均勻光、錫形燈源、低角度燈源與白燈。
均勻光一般使用於掃描全板大圖，錫形燈源用於檢測元件的爬錫處，低角度燈源則用於檢測元
件本體上的文字印刷，而白燈是用於對位標記、壞板標記或條碼。使用者藉由”檢測框參數設
定面板”中”硬體設定”的”燈光”進行切換檢測光源的動作。
圖 54：切換檢測燈光的方式
這四種光源的所顯示的元件色彩分布情況如下列圖示。
圖 55：均勻光