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Test Research, Inc. TR7500 SIII Series User G uide – Soft ware 53 3.6 代料顯示編 輯區 對於需要進行幾何學特徵比對 與標準化相關性比對的檢測框，使用者需利用此區 加入代料影像， 來作為檢測的圖形比對 標準。 圖 71 ：代料顯示編 輯區使用說明 新增代料影像：將原圖中 檢測框的影像加入到代料 影像區。 刪除代料影像：將已選擇 的代料影像從代料影像區 移除。 …
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圖 70：HeightMap 法
參數說明
灰階高度：一個灰階值代表的高度(μm)。
極限：設定高度範圍的上下限以縮小下一個高度直方圖的搜尋範圍。此設定不
會對 HeightMap 影像產生影響。
範圍：在設定完極限的範圍內設定轉換為灰階影像的實際高度範圍，在範圍外
的將不進行轉換(呈現黑色)。一般而已，範圍設定越大，其灰階值差異會縮小，
而範圍越小則相對灰階值對比會增加。
門檻：在設定的實際轉換影像範圍內，設定亮區與暗區的門檻值。
備註：在調整參數時，請將實際轉換範圍縮小至包含高度部分的區域內，會有較佳的
對比效果。此代料影像法非常適合用在黑體元件的本體定位用。
3.5 檢測框的比對方式
TRAOI 的檢測框測試方式，主要分為幾何學特徵比對、標準化相關性比對、明暗/色彩分布比
對以下三種。
1. 幾何學特徵比對：
選擇一個正常的元件影像作為比對樣本，調整權重與門檻值後擷取其特徵輪廓，然後
將待測元件影像與其樣本特徵輪廓進行比對，檢測是否達到設定值。利用這個原理進
行檢測的框例如 PatMatch、OCV、OCR….等框。
2. 標準化相關性比對：
選擇一個正常的元件影像作為比對樣本，調整權重與門檻值後將待測元件影像與其樣
本進行逐步的畫素(Pixel)灰階值比對，檢測是否達到設定值。利用這個原理進行檢測的
框例如 CorMatch…等框。
3. 明暗/色彩分布比對：
計算檢測框內明暗/色彩分布的比例是否達到設定值。利用這個原理進行檢測的框例如
Void、Bridge…等框。
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3.6 代料顯示編輯區
對於需要進行幾何學特徵比對與標準化相關性比對的檢測框，使用者需利用此區加入代料影像，
來作為檢測的圖形比對標準。
圖 71：代料顯示編輯區使用說明
新增代料影像：將原圖中檢測框的影像加入到代料影像區。
刪除代料影像：將已選擇的代料影像從代料影像區移除。
編輯遮罩：對代料影像進行遮罩功能，以增加檢測的正確性(僅能在權重法下使用)。點選
後會跳出遮罩視窗，如下圖所示。
圖 72：遮罩功能設定介面視窗
形狀
- 矩形：按下此按鈕會出現矩形遮罩框。將框移到欲進行遮罩的地方並調整其大小後，
按下[內部遮罩]，或[外部遮罩]，系統即按照指示設定遮罩。
- 圓形：按下此按鈕會出現圓形遮罩框，將框移到欲進行遮罩的地方並調整其大小後，
按下[內部遮罩]，或[外部遮罩]，系統即按照指示設定遮罩。
新增代
料影像
刪除代
料影像
增加所需的色彩
空間數量
預檢代料
原始影像
顯示特
徵
處理後影像
編輯遮
罩
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- 鉛筆：以手動方式個別指定哪些部分要設定遮罩。選擇本按鈕後會出現畫筆圖示，對
於想要設定遮罩的地方按下滑鼠左鍵即可，設定為遮罩的地方將會變成綠色。
- 橡皮擦：清除已經加入的遮罩。
- 畫素：調整畫筆或橡皮擦的粗細。
使用灰階
- 依灰階：勾選後開啟遮罩範圍功能。
- 反向：以設定的遮罩範圍以外的地方作遮罩。
- 遮罩範圍：設定在灰階範圍以內的地方作遮罩。
- 遮罩延伸：設定以檢測框往外延伸多少畫素為遮罩範圍。
遮蔽內部：將矩形框或圓形框的內部完全遮罩。
遮蔽外部：將矩形框或圓形框的外部完全遮罩。
清除全部：將設定遮罩的部分完全清除。
重置框：將遮罩框移動到初始位置。
預檢代料：檢測所有代料影像並顯示計算結果。
圖 73：點選”即時檢測代料”影像功能後的代料影像
顯示特徵：進行代料影像的輪廓偵測，可從圖中線條得知目前的權重調整是否能清楚的切
割出想要的目標。(僅能在權重法下使用)
圖 74：顯示代料影像輪廓功能視窗