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Test Research, Inc. TR7500 SIII Series User G uide – Soft ware 61 圖 85 ：邊緣類型 設定 – 左暗 (LedtDark) 3.7.3 本體檢測 (Chip) 框 用途：用來檢查元件的 缺件、損件、偏移、立碑現 象，一般用在 晶片 元件定位，亦可用在二 極 體、黑元件、 排組 以及鋁質電容的 定位。 檢測原理：利用 元件 的兩極、本 體或其他特徵 的色彩來進 行定位。
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60 TR7500 SIII Series User Guide – Software
參數畫面與說明：
圖 84：平整檢測框參數設定畫面
硬體設定：
相機：切換不同角度的相機，可選擇上、前、後、左、右五個方向。
燈光：選擇使用均勻光、錫形燈源、低角度燈源或者白燈，預設為錫形燈源。
基本參數與其對應的合格標準：
影像模式：選擇影像的比對方式為權重法、色彩空間法、RGB 法，預設為色彩空間法。
偵測方式：選擇使用 Linearity、Angle、Both 或 Ignore。
- Linearity：用於共線性檢測。
- Angle：用於角度檢測。
- Both：用於同時進行共線性與角度檢測。
- Ignore：忽略檢測功能，僅取得主趨勢直線方程式。
偏移點總數(當偵測方式選擇 Linearity 或 Both 時)：設定超出線性關係的邊界點總數上
限。
旋轉公差值(當偵測方式選擇或 BothAngle 時)：設定旋轉角度的公差值。
標準角度(當偵測方式選擇 Angle 或 Both 時)：設定邊界線的標準角度。
進階設定：
- 邊緣類型：設定所切出邊緣的類型是左暗(LedtDark)、左亮(LeftBright)、下暗
(BottomDark)或右亮(BottomBright)。
備註：設定檢測框的方向與亮暗的標準是依據基底所在的位置。基底所在的位置會以
目前元件 CAD 的座標自動產生，並且以兩個橘色的彎線表示。如下圖所示，設定必須
為左暗。
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TR7500 SIII Series User Guide – Software 61
圖 85：邊緣類型設定 – 左暗(LedtDark)
3.7.3 本體檢測(Chip)框
用途：用來檢查元件的缺件、損件、偏移、立碑現象，一般用在晶片元件定位，亦可用在二極
體、黑元件、排組以及鋁質電容的定位。
檢測原理：利用 元件的兩極、本體或其他特徵的色彩來進行定位。
Test Research, Inc.
62 TR7500 SIII Series User Guide – Software
參數畫面與說明：
圖 86：本體檢測框參數設定畫面
硬體設定：
相機：切換不同角度的相機，可選擇上、前、後、左、右五個方向。
燈光：選擇使用均勻光、錫形燈源、低角度燈源或者白燈，預設為錫形燈源。
一般合格標準：
旋轉：設定待測元件旋轉角度的公差值。
X 方向尺寸差異(%)：設定檢測值與標準值在 X 方向尺寸差異百分比的公差值。
Y 方向尺寸差異(%)：設定檢測值與標準值在 Y 方向尺寸差異百分比的公差值。
基本參數與其對應的合格標準：
影像模式：選擇影像的比對方式為權重法、色彩空間法、RGB 法或 HeightMap 法，預
設為色彩空間法。
偏移模式：選擇使用 Normal、ShiftXY 或 Boundary 模式來測試位移。