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Test Research, Inc. TR7500 SIII Series User G uide – Soft ware 63 - Normal :可以個別 設定 X 方向與 Y 方向的偏移公差值。 圖 87 :偏移模式 – Normal - ShiftXY :設定 X 與 Y 方向的總位移量 (X 、 Y 位移的平方根 ) 的公 差值。 圖 88 :偏移模式 – ShiftXY - Boundary :設定一個 邊界作為檢 測時的…

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62 TR7500 SIII Series User Guide – Software
參數畫面與說明:
圖 86:本體檢測框參數設定畫面
硬體設定:
相機:切換不同角度的相機,可選擇上、前、後、左、右五個方向。
燈光:選擇使用均勻光、錫形燈源、低角度燈源或者白燈,預設為錫形燈源。
一般合格標準:
旋轉:設定待測元件旋轉角度的公差值。
X 方向尺寸差異(%):設定檢測值與標準值在 X 方向尺寸差異百分比的公差值。
Y 方向尺寸差異(%):設定檢測值與標準值在 Y 方向尺寸差異百分比的公差值。
基本參數與其對應的合格標準:
影像模式:選擇影像的比對方式為權重法、色彩空間法、RGB 法或 HeightMap 法,預
設為色彩空間法。
偏移模式:選擇使用 Normal、ShiftXY 或 Boundary 模式來測試位移。

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TR7500 SIII Series User Guide – Software 63
- Normal:可以個別設定 X 方向與 Y 方向的偏移公差值。
圖 87:偏移模式 – Normal
- ShiftXY:設定 X 與 Y 方向的總位移量(X、Y 位移的平方根)的公差值。
圖 88:偏移模式 – ShiftXY
- Boundary:設定一個邊界作為檢測時的判定基準。當勾選此選項時,參數設定的
ShiftX 與 ShiftY 會變成 Boundary/X 與 Boundary/Y。當檢測結果超出此範圍時視
為不良。
圖 89:偏移模式 – Boundary
檢測模式:選擇使用 Head、Body、Square、Rnet 或者 CAE 的檢測方式。

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- Head:利用 Chip 兩電極端的色彩來判定 Chip 元件位置,適用於一般情況。擷取
色彩時需選出兩端極的色彩,並注意盡量不要讓爬席端的雜訊與電極端色彩相連,
如下圖所示。
圖 90:本體檢測框 – Head 模式色彩選取方式
− Head 形式:
電極端形狀:選擇使用 Rectangle 或 T-Shaped。當電極端的形狀為矩形
時,請選擇 Rectangle;當電極端的形狀為 T 型時,請選擇 T-Shaped,如
下圖所示。
圖 91:Head 模式 – T-Shaped 使用元件範例
缺件檢測:當使用電極端形狀進行檢測時,有時候會因為電極端的顏色選
取問題導致在真正缺件時會誤判為有件。因此,勾起此選項後,系統會自
動計算電極端長寬比率太接近為 1 時,會自動判定為缺件。