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Test Research, Inc. TR7500 SIII Series User G uide – Soft ware 69 圖 98 ：色碼檢測框 檢測結果 3.7.6 逐點匹配 (CorMatch) 框 用途： 主要 用來檢查積體電路導腳 之缺件、偏移、腳彎與 0201 尺寸以下 晶片 元件的缺件、損 件、偏移、立碑、極性 。 檢測原理：利用影像中 一個個畫素的灰階值比對 來計算其相 似度。 參數畫面與說明： 圖 99 ：逐點…

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Test Research, Inc.
68 TR7500 SIII Series User Guide – Software
參數畫面與說明：
圖 97：色碼檢測框參數設定畫面
硬體設定：
切換不同角度的相機，可選擇上、前、後、左、右五個方向。
燈光：選擇使用均勻光、錫形燈源、低角度燈源或者白燈，預設為錫形燈源。
一般合格標準：
色環最小比率(%)：在教導完本體顏色後，系統會自動計算各色環落入所有色環所計算
出的色彩空間的比例，然後將最小的比例設定為此參數。若有其中一個色環的所佔的
色彩空間比例小於此值時，將會判定為 Fail。
基本參數與其對應的合格標準：
元件定位：勾選後元件會自動移動該元件的位置進行檢測。
- 色環數量：設定檢測電阻上的色環總數量。
- 色環最小寬度：設定色環最小的寬度，單位為 μm。
- 元件色彩：使用擷取色彩功能來設定元件本體的色彩。
- 色環 1/2/3/4/5/6 色彩：使用擷取色彩功能來設定每一個色環的色彩。
當參數設定正確時，檢測結果會如下圖所示。
Test Research, Inc.
TR7500 SIII Series User Guide – Software 69
圖 98：色碼檢測框檢測結果
3.7.6 逐點匹配(CorMatch)框
用途：主要用來檢查積體電路導腳之缺件、偏移、腳彎與 0201 尺寸以下晶片元件的缺件、損
件、偏移、立碑、極性。
檢測原理：利用影像中一個個畫素的灰階值比對來計算其相似度。
參數畫面與說明：
圖 99：逐點匹配框參數設定畫面
Test Research, Inc.
70 TR7500 SIII Series User Guide – Software
硬體設定：
相機：切換不同角度的相機，可選擇上、前、後、左、右五個方向。
燈光：選擇使用均勻光、錫形燈源、低角度燈源或者白燈，預設為錫形燈源。
一般合格標準：
相似度：設定待測影像與標準影像的相似度標準值。當待測物與標準值的相似度低於
設定值，即視為不良。
基本參數與其對應的合格標準：
影像模式：選擇影像的比對方式為權重法、色彩空間法或 RGB 法，預設為色彩空間法。
定位模式：區分為 Normal 及 Warp 模式，Normal 及一般檢測，Warp 為定位補償，
Fail 時不會顯示在測試視窗。
偏移模式：選擇使用 Normal、ShiftXY 或 Boundary 模式來測試位移。
- Normal：可以個別設定 X 方向與 Y 方向的偏移公差值。
- ShiftXY：設定 X 與 Y 方向的總位移量(X、Y 位移的平方根)的公差值。
- Boundary：設定一個邊界作為檢測時的判定基準。當勾選此選項時，參數設定的
ShiftX 與 ShiftY 會變成 Boundary/X 與 Boundary/Y。當檢測結果超出此範圍時視
為不良。
3.7.7 邊數計算(Edge)框
用途：用來檢測元件的邊緣缺陷。
檢測原理：利用影像中的色彩來計算元件的邊緣數量。
參數畫面與說明：
圖 100：邊數計算框參數設定畫面
硬體設定：
相機：切換不同角度的相機，可選擇上、前、後、左、右五個方向。
燈光：選擇使用均勻光、錫形燈源、低角度燈源或者白燈，預設為錫形燈源。