FX-1R_InstructionManual_C_Rev03a.pdf - 第351页
第 6 章 编辑辅助功能 6-79 6.5.3.4 单独测量结果 单独测量结束后，结果显示在以下对话框。 图 6.5-19 单独测量结果对话框 测量元件 显示元件内容和吸取位置。 测量结果 显示测量结果的数值。（）内表示原先元件数据的数值。 未测量的项目，显示， “****” 确定([F8]键) 将测量结果变为有效状态， 覆盖到元件数据上。 然后返回单独测量条件设定画面。 取消([ESC]键) 测量结果为无效，然后返回原…
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1 mm 以下的元件归还后，显示对话框，要求确认元件返还是否正常。
图 6.5-16 确认元件归还对话框
从测量的尺寸计算出激光高度，若与原来的值不同，则显示以下提示。
图 6.5-17 确认激光高度更新对话框
从测量的尺寸计算出片芯站立高度，若与原来的值不同，则显示以下提示。
图 6.5-18 确认是否覆盖芯片站立原判断高度的对话框
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6.5.3.4 单独测量结果
单独测量结束后，结果显示在以下对话框。
图 6.5-19 单独测量结果对话框
测量元件
显示元件内容和吸取位置。
测量结果
显示测量结果的数值。（）内表示原先元件数据的数值。
未测量的项目，显示，“****”
确定([F8]键)
将测量结果变为有效状态，覆盖到元件数据上。然后返回单独测量条件设定画面。
取消([ESC]键)
测量结果为无效，然后返回原先单独测量条件设定画面。
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●再测量 ([F10])
再次以相同条件测量。
●快捷键
在单独测量结果画面上，可用以下的快捷键操作。
键盘 操作面板的开关 HOD 键 运行
F8
－
ENTER
确定
F10
－ － 再测量
ESC
－
CANCEL
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