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Stationssoftware 7xx bis 7 14.0 (R20-2) / Funktionsbeschreibung Ausgabe 11/2020 218 11.1.2 ACT – Abhängig von Genauigkeit Kompatibler Modus: Nicht unterstütz t Bestückautomaten wie SI PLACE TX, TX micron, CA4, CA4 eWLP, …
Stationssoftware 7xx bis 714.0 (R20-2) / Funktionsbeschreibung Ausgabe 11/2020
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11 Funktionsbeschreibung Stationssoftware V710.x
Leistungsmerkmale (V710.0 (R16-2) kompatibler Modus: V709.2)
11.1 SIPLACE TX micron – Neuer Bestückautomat
Kompatibler Modus: Nicht unterstützt
Der neue Bestückautomat SIPLACE TX micron unterstützt die Bestückung mit hoher Genauigkeit
auf einem Doppeltransportsystem. Der Bestückautomat ist in zwei Varianten verfügbar: TX2
micron und TX2i micron. Die Bestückköpfe C&P20 M2 und CPP, sowie der Förderer SIPLACE
JTF-ML werden unterstützt. Zwei Markenleisten in X-Richtung sind vorhanden. Als Option wird ein
spezielles Vakuum-Tooling verwendet, um die höchsten Genauigkeitsanforderungen zu erfüllen.
Mit dem Vakuum-Tooling stehen zwei Markenleisten in Y-Richtung zur Verfügung.
Markenleisten in X-Richtung sind durch Kreuze, Punktmatrizen und Mini-MAC-Strukturen
strukturiert, die von einem neuen Messverfahren verwendet werden. Das Verfahren bietet
Funktionen zur Erhöhung der Genauigkeit und zur Stabilität der Bestückergebnisse für lange Zeit.
Neue Kalibrierschritte werden automatisch ausgeführt, u.a. um den Kopf-Offset zu berechnen und
die Portalform neu zu kalibrieren.
Die Genauigkeitsfähigkeiten der Station sind in der neue XML-Tabelle Accuracy Procedures
festgelegt.
Siehe auch Abschnitt 11.3.
11.1.1 Vakuum-Tooling
Ein spezielles Vakuum-Tooling muss pro Transportspur installiert werden für die Bestückung mit
hoher Genauigkeit von 15µm auf dem Bestückautomaten SIPLACE TX micron. Die exakte Maße
des Vakuum-Toolings und die Markenpositionen sind kundenspezifisch. Der Bediener muss das
Vakuum-Tooling während der Autokonfiguration aus einer Liste manuell auswählen.
Die Marken des Vakuum-Toolings werden in einer Messmaschine vermessen und die Ergebnisse
in eine Datei gespeichert. Jede Vakuum-Tooling-Einheit hat eine eindeutige Kennzeichnung, die in
der Datei vorhanden ist. Diese Datei kann an der Station importiert und die Daten dem
entsprechenden Vakuum-Tooling zugewiesen werden.
Das Vakuum-Tooling muss während des Mappings entfernt werden. Nach dem Mapping muss es
wieder eingebaut und kalibriert werden. Der entsprechende Kalibrierschritt bestimmt die aktuelle
Position (Offset und Drehung) des Vakuum-Toolings in der Maschine während der automatischen
Kalibrierung.
Wenn ein Vakuum-Tooling installiert ist, sind folgende Aktionen auf dem Transport nicht erlaubt:
– Eine neue Wangenkonfiguration einstellen
– Kalibrierplatte transportieren
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11.1.2 ACT – Abhängig von Genauigkeit
Kompatibler Modus: Nicht unterstützt
Bestückautomaten wie SIPLACE TX, TX micron, CA4, CA4 eWLP, X4 S micron unterstützen
verschiedene Genauigkeitsklassen. Neue SIPLACE Pro-Programme stehen im Download Center
zur Verfügung, um eine ACT-Messung für eine spezifische Genauigkeit durchzuführen.
Abhängig von der Genauigkeit, die für die Gehäuseform in SIPLACE Pro festgelegt ist, wird die
passende Genauigkeitsklasse für die ACT-Messungen ausgewählt. Wenn keine spezifische
Genauigkeit festgelegt ist, wird der gleiche Algorithmus wie bisher eingesetzt, um die zu
verwendende Genauigkeit auszuwählen.
11.2 Shuttle Extension für SIPLACE TX-Serie
Kompatibler Modus: Nicht unterstützt
Um die bestmögliche Leistung zu erreichen, könnten Shuttles benötigt werden in der SIPLACE-
Linie, z.B. wenn I-Placement-Modus verwendet wird. Hierzu ist die neue Shuttle Extension für die
SIPLACE TX-Serie eingeführt worden. Pro Maschine können bis zu zwei Shuttle Extensions
angeschlossen werden – einen Eingabe-Shuttle und einen Ausgabe-Shuttle.
Die Shuttle Extension selbst und die Spureinstellungen müssen in SIPLACE Pro konfiguriert
werden. An der Station kann die Shuttle Extension, wie im Folgenden beschrieben, ausgewählt
und konfiguriert werden.
An der Station ist die Ansicht Rüstung um eine zusätzliche Schaltfläche pro Shuttle Extension
erweitert worden.
Abbildung 11-1: Rüstung mit Shuttle Extensions
Der Dialog Einzelfunktionen Subsysteme ist um eine Schaltfläche Einzelfunktionen Shuttle pro
Shuttle Extension erweitert worden.
Im nachfolgenden Dialog mit den Einzelfunktionen für die Shuttle Extension sind folgende
Abschnitte vorhanden:
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Aktuelle Position / Shuttle ausrichten
Transportbreite
Signale
Leiterplatte transportieren
Einzelfunktionen sind nur verfügbar, wenn die Shuttle Extension sich nicht im automatischen
Betrieb befindet.
Das Werkzeug Service ist um die Schaltfläche Shuttle-Konfiguration erweitert worden. Der
Bediener kann in den folgenden Konfigurationsdialogen Geschwindigkeitsparameter, eSW-
Parameter und einzelne Laufwerke konfigurieren.
Der Dialog Einzelkalibrierung ist um eine Schaltfläche per Shuttle Extension erweitert worden.
Die Shuttle-Transportspurbreite muss kalibriert werden.
Die Ausrichtung der festen Transportwangen aller an den Shuttle angrenzenden Spuren muss
kalibriert werden.
Wenn eine Spur ausgewählt ist, richtet der Shuttle sich selbst zur gewählten Spur aus. Der
Bediener kann dann den Shuttle in kleinen oder großen Schritten bewegen, um die feste Wange
auszurichten und die Einstellung speichern.
Einschränkungen
Barcode-Betrieb und stationsweiser Download sind nicht unterstützt.
Detaillierte Informationen zur Shuttle Extension finden Sie in der Montage- und
Bedienungsanleitung Shuttle-Extension, Artikelnummer [00198271-xx].
11.3 Genauigkeitswert
Der gewünschte Genauigkeitswert für die Gehäuseform muss in SIPLACE Pro festgelegt werden.
Wenn eine Genauigkeit < 20µm festgelegt wurde, wird die Lizenz Micron 15u3Sigma – Machine
Connection an der Station benötigt.
11.4 Alternative Gehäuseformen
Kompatibler Modus: Nicht unterstützt
Ab dieser Stationssoftware-Version werden alternative Gehäuseformen unterstützt. Bei alternativen
Gehäuseformen können einem Bauelement mehrere Gehäuseformen zugeordnet werden. Jeder
alternativen Gehäuseform kann ein eigener Bestück-Offset zugewiesen werden. Jeder alternativen
Gehäuseform kann ein eigener Förderer mit Abhol-Offsets (X-und Y), sowie Abhol-Winkel
zugewiesen werden.
Alternative Gehäuseformen müssen in SIPLACE Pro festgelegt werden.