OM-1466-001_w - 第32页
29 4.1 測定原理 4.1 測定原理 リード浮き計測の原理 • レーザビームをリードに照射し、その反射を受光素子にて検出 します。 • リードの高さが変ると受光素子の検出位置が変りますので、受 光素子の検出位置の変化を得ることによりリードの高さを検出 します。 Fig. 4 リード浮き量の検出方法 • リード浮き量の検出には、走査型レーザ変位計 ( 赤外線半導体 レーザ、クラス 1) を使用しています。 • レーザビームをポリゴンミ…
28
4. 動作概要
4. 動作概要
(1) 部品をフィーダから吸着（取出）します。
(2) 部品認識を行います。
(3) リード浮き検出を行う位置にヘッドが移動します。
•
ヘッドが移動する間に、次の動作が行われます。
ヘッドのスキャン開始位置での待機
部品認識結果に基づく吸着部品の X、Y、Z 補正
吸着部品のスキャン開始角度での待機
(4) リード浮き検査を行います。
•
一括検出の場合は、一括スキャン
•
分割検出の場合は、2 回スキャン
(5) リード浮き検査の結果により次のように処理されます。
OK : 部品を装着します。
NG : 部品を廃棄します。
参考 : リード浮きの判定基準は、部品ライブラリデータで設定
します。
Fig. 3
0710-001
29
4.1 測定原理
4.1 測定原理
リード浮き計測の原理
•
レーザビームをリードに照射し、その反射を受光素子にて検出
します。
•
リードの高さが変ると受光素子の検出位置が変りますので、受
光素子の検出位置の変化を得ることによりリードの高さを検出
します。
Fig. 4
リード浮き量の検出方法
•
リード浮き量の検出には、走査型レーザ変位計 ( 赤外線半導体
レーザ、クラス 1) を使用しています。
•
レーザビームをポリゴンミラーにて X 方向にスキャンさせるこ
とにより、測定対象部品の X 方向の連続した高さデータを得る
ことができます。さらに測定対象部品を Y 方向に走査すること
により、測定対象部品底面の 3 次元情報を得ることができます。
得られた 3 次元情報よりリード位置を抽出し、リード浮き量を
検査します。
参考 : クラス 1 のレーザ光は、設計上安全とされるものです。100
秒間その光を瞬き無しに見続けても、網膜に損傷を与えない
レベルです。
リード浮き検出ユニット
(レーザ操作方向)
Fig. 5
0710-001
30
5. リード浮き検出設定手順
運転方法の設定
部品ライブラリ［制御］の設定
部品認識テスト
自動運転
•
運転方法の設定を行います。
詳細については“6. 運転方法”を参照して
ください。
•
部品ライブラリ [ 制御 ] の設定を行います。
詳細については“7. 部品ライブラリ”を参
照してください。
•
部品認識テストにて確認を行います。
詳細については “10. 部品認識テスト ” を
参照してください。
5. リード浮き検出設定手順
0710-001