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36 7. 部品ライブラリ 異常処理 リード浮き検出で、NG 判定が連続何回継続したら装置を異常停 止させるかを設定します。 • データの入力範囲 : 1 ～ 9 1 : リード浮き検出の NG 判定で装置が停止します。 2 : リード浮き検出の NG 判定が 2 回連続した場合に装置が 停止します。 n : リード浮き検出の NG 判定が n 回連続した場合に装置が 停止します。 データ設定 自動 詳細な設定を自動で設定します。 手動…
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7. 部品ライブラリ
7. 部品ライブラリ
“部品ライブラリ” の“制御データ” タブシートを開き、“ リード浮
き検出 ” データを編集します。
[1]
Fig. 9 “ 制御データ ” タブシート
[1] リード浮き検出
検出機能
リード浮き検出機能を設定します。
使用する
リード浮き検出を使用します。
使用しない
リード浮き検出を使用しません。
リトライ
リトライ機能を設定します。
リトライ機能とはリード浮き検出した際に、スキャン高さがず
れていたり設定が合わずに検出結果が NG になった場合に、再度
設定を変えて再検出する機能です。
高さずれ許容値
端子の高さずれ許容値を設定します。ここでの設定値以上の浮
き量がある場合には NG 判定を行います。
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7. 部品ライブラリ
異常処理
リード浮き検出で、NG 判定が連続何回継続したら装置を異常停
止させるかを設定します。
•
データの入力範囲 : 1 ～ 9
1 : リード浮き検出の NG 判定で装置が停止します。
2 : リード浮き検出の NG 判定が 2 回連続した場合に装置が
停止します。
n : リード浮き検出の NG 判定が n 回連続した場合に装置が
停止します。
データ設定
自動
詳細な設定を自動で設定します。
手動
詳細な設定を行えるようになります。
[2]
Fig. 10 “ 制御データ ” タブシート
[2] 詳細設定項目
リード浮き検出データ設定を “手動” にした場合に詳細設定項
目が表示されます。
仮想平面傾き判定
しない（デフォルト )
全端子高さから計算した仮想平面の傾き判定を行いません。
する ( 手動 )
全端子高さから計算した仮想平面の傾き判定の設定を手動で
行います。
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7. 部品ライブラリ
仮想平面傾き許容値
仮想平面傾き判定が “ する ( 手動 )” のときに表示されます。
仮想平面の傾きの許容値を入力します。
ノート
0 を設定すると仮想平面傾き判定を行いません。
測定精度
自動（デフォルト）
測定精度 ( 標準 / 高精細 ) の設定を、部品情報から自動で設
定します。
標準
標準像度で検査を行います。
SOP、QFP、コネクタ
リードピッチ 0.4 mm 以上の場合に設定します。
BGA、CSP
ボールピッチ 0.8 mm 以上、ボール径 0.5 mm 以上の場合に
設定します。
高精細
高解像度で検査を行います。
SOP、QFP、コネクタ
リードピッチ 0.4 mm 未満の場合に設定します。
BGA、CSP
ボールピッチ 0.8 mm 未満、ボール径 0.5 mm 未満の場合に
設定します。
部品特徴
自動 （デフォルト）
部品特徴（リードの光り具合）を自動で設定します。リード
部品の場合は中庸光沢リードが設定されます。BGA,CSP の場
合は光沢ボールが設定されます。
光沢
部品特徴（リード、ボールの光り具合）を “ 光沢 ” 設定にし
ます。リード部品の場合、表面がパラジュームメッキや金メッ
キの場合にはリードがよく光りますので、“ 光沢”設定にしま
す。ボールの場合は通常 “ 光沢 ” 設定にします。
中庸光沢
部品特徴（リードの光り具合）を “ 中庸光沢 ” 設定にします。
通常のリード部品の場合は“中庸光沢” 設定にしてください。
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