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45 8.2 リード浮きテスト [5] [ 結果詳細表示 ] ボタン 各端子ごとの計測結果を表示します。 このボタンを押すと以下の画面が表示されます。 Fig. 18 結果詳細表示 リード浮き結果表示 端子平均高さ ( µ m) 各端子の高さの平均値を表示します。 基準平面の X 傾き (1024*tan( θ )) X 方向の傾きを θ =Tan-1 (x/1024) を満たす x の値で表示され ます。 基準平面の Y 傾き (10…
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8.2 リード浮きテスト
[4] [ 部品認識結果補正 ] ボタン
カメラによる部品認識結果により位置補正を設定します。
このボタンを押すと以下の画面が表示されます。
Fig. 17 部品認識テスト
[ 補正あり ] ボタン
部品認識結果の位置補正を行います。
[ 補正なし ] ボタン
部品認識結果の位置補正を行いません。
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8.2 リード浮きテスト
[5] [ 結果詳細表示 ] ボタン
各端子ごとの計測結果を表示します。
このボタンを押すと以下の画面が表示されます。
Fig. 18 結果詳細表示
リード浮き結果表示
端子平均高さ (
µ
m)
各端子の高さの平均値を表示します。
基準平面の X 傾き (1024*tan(
θ
))
X 方向の傾きを
θ
=Tan-1 (x/1024) を満たす x の値で表示され
ます。
基準平面の Y 傾き (1024*tan(
θ
))
Y 方向の傾きを
θ
=Tan-1 (x/1024) を満たす x の値で表示され
ます。
端子数
検出した端子数が表示されます。
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8.2 リード浮きテスト
リード浮き詳細結果表示
ピン番号
端子番号を表示します。
X 位置 (
µ
m)
各端子の位置座標 X ( 部品中心基準 ) を表示します。
Y 位置 (
µ
m)
各端子の位置座標 Y ( 部品中心基準 ) を表示します。
高さ (
µ
m)
各端子の高さ測定値を表示します。
X ズレ量 (
µ
m)
部品寸法から決定される各端子の理想位置からのずれ量 X を
表示します。
Y ズレ量 (
µ
m)
部品寸法から決定される各端子の理想位置からのずれ量 Y を
表示します。
浮き量 (
µ
m)
各端子の XY 位置、高さから求まる基準平面からのずれ量を表
示します。
ノート
X、Y、高さ、X ズレ量、Y ズレ量、浮き量の各数値は
µ
m 単位
で表示します。符号は各軸の方向と同じです。
高さ，浮き量は上方向がマイナス方向になります。
浮き量は基準平面を 0 とします。それよりも端子が下にある
場合がプラス (+)、上にある場合がマイナス (-) になります。
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