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6 Funciones ópticas Instrucciones de uso S IPLACE HS-50 6.2 Sistema óptico de tarjetas de circuitos Versión de software SR.501.xx Edición 12/99 ES 188 t I I t 6.2.4 Ciclo de funcionamiento Antes de pod er utiliz ar una m…
Instrucciones de uso SIPLACE HS-50 6 Funciones ópticas
Versión de software SR.501.xx Edición 12/99 ES 6.2 Sistema óptico de tarjetas de circuitos
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– la pantalla (modo-VGA, enchufe SUBD de 15 polos)
– la interfaz de alta velocidad (HS
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L), enchufe SUBD de 9 polos
– hasta 4 entradas de cámara (2 enchufes SUBD de 15 polos)
– dos interfaces seriales (RS232 para COM1 con un enchufe SUBD de 25 polos y para
COM2 con un enchufe SUBD de 9 polos)
– señales de disparador y flash (enchufe de cable plano de 10 polos)
y los LEDs de visualización de estado para 6
– la CPU (CFG)
– el procesador óptico (ACA)
– la entrada de cámara (BCA)
– la visualización de pantalla (DISP)
Los interruptores para "RESET" y "ABORT" se encuentran debajo de los LEDs de visualización.6
6.2.2 Datos técnicos
Tipo de cámara: SONY XC75 6
Número de pixel: Cámara 768 (H) x 494 (V), imagen 640 (H) x 484 (V) 6
Campo visual: 5,7 mm x 5,7 mm 6
Método de iluminación: Proceso de luz incidente (se activa en el proceso de medición) 6
Tratamiento de imagen: Principio de correlación, sistema de valores de gris 6
Pantalla: Monitor RGB (modo VGA) 640 x 484 Pixeles de la computadora
de la estación 6
Marcas: Memoria biblioteca para hasta 255 definiciones de marca 6
6.2.3 Descripción de funcionamiento
Antes de colocar, el sistema óptico de tarjetas de circuitos determina la posición, ángulo de giro
y cizallamiento de la tarjeta de circuitos en base a la posición de las marcas. Desviaciones de los
valores nominales son calculadas como correcciones en las posiciones de colocar de los compo-
nentes. 6
En una tarjeta de circuitos deben aplicarse mínimo 2 marcas para que el sistema reconozca des-
viaciones de la posición de la tarjeta de circuitos y del ángulo de giro de la misma. Con 3 marcas
obtiene adicionalmente informaciones sobre el cizallamiento y el alabeo de la tarjeta de circuitos
y la disposición de la misma. 6
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6.2.4 Ciclo de funcionamiento
Antes de poder utilizar una marca para el reconocimiento de tarjeta de circuitos primero debe ha-
berse determinado sus parámetros, es decir los parámetros de la estructura de la marca deben
estar memorizados en el sistema óptico de tarjeta de circuitos para la muestra. 6
Con la cámara de tarjeta de circuitos montada en el portal y el programa óptico se determian los
parámetros la estructura de la marca. La unidad de evaluación óptica determina con métodos di-
gitales de tratamiento de imágenes los parámetros significativos de la estructura de las marcas.
El proceso de medición se desarrolla en 2 niveles: 6
– proceso de búsqueda de muestra - 2D (proceso bidimensional) en trama gruesa y deter-
minación provisional de las coordenadas de las marcas
– proceso de búsqueda de muestra 1D (proceso en 1 dimensión) para una determinación
exacta de las marcas.
En el proceso de búsqueda de muestra bidimensional la ventana de reconocimiento de muestra
se divide en áreas moxel. Los moxel (Mosaikpixel) son campos pixel con p.ej. 16 x 16, 8 x 8 etc.
pixel. Como menor sea el número de pixel por cada moxel, mayor es la resolución y menor la ve-
locidad de búsqueda. 6
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Fig. 6.2 - 1 Aclaración de campo visual, campo de búsqueda y ventana de búsqueda de muestra
(1) Campo visual de la cámara
(2) Campo visual ≤ campo visual de la cámara (en este intervalo se busca la marca)
(3) Marca de referencia
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(4) Moxel = campo pixel, p.ej. 16 x 16 pixel
(5) Ventana de búsqueda de muestra (contiene la marca de referencia)
(6) Marca a buscar
La ventana de búsqueda de muestra se desplaza en pasos moxel sobre el campo de búsqueda.
En ello se calculan los valores de gris de cada moxel de la marca de referencia. Esta estructura
reducida de datos contiene suficientes informaciones sobre la estructura aproximada y posición
de la marca de referencia. 6
INDICACION 6
La ventana de búsqueda debe elegirse lo más pequeña posible para alcanzar una elevada velo-
cidad de búsqueda. Sin embargo debe tener un tamaño suficiente para identificar de forma uní-
voca la marca.
Para la determinación exacta de la muestra y posición de la marca se utiliza el proceso de bús-
queda de muestra 1D. La imagen de la marca se divide en filas y columnas y se suman los valores
de gris dentro de cada fila y columna. Este proceso se ilustra, tomando como base una doble
cruz, en la figura siguiente. 6
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Fig. 6.2 - 2 Perfil de filas y columnas de una cruz doble
(1) Marca
(2) Suma de los valores de gris por columnas: perfil de columnas
(3) Suma de los valores de gris por filas: perfil de filas
– De los perfiles horizontales o verticales se determina la posición exacta de la marca. Después
de determinar los parámetros de la estructura de la marca se memorizan en la computadora
de línea.
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